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Espectrómetros de electrones: AES, XPS, EELS...

 37 Productos industriales
 
 
Empresas 1 a 9 de 9
Jeol
Espectrómetro Auger (AES)  JAMP-9500F Jeol
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El JAMP-9500F ofrece la resolución espacial más alta disponible en un microsondeo electrónico: (diámetro de la punta de prueba del Min. de 3nm para SEI; 8nm para el análisis del taladro). Empleando una lente de condensador de la bajo-aberración (en cuál son sobrepuestos un campo electrostático y un campo magnético), combinada con un arma patentado de la emisión de campo de Schottky de la "en-lente", ...

Espectrómetro fotoelectrónico rayos X (XPS)  JPS-9200 Jeol
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El JPS-9200 es un sistema desarrollado recientemente del espectrómetro del fotoelectrón de la radiografía usado para el análisis de la superficie del micro-área de una gama amplia de muestras. El nuevo analizador hemisférico del electrón incorpora una combinación de una lente de aceleración electrostática y de lente del campo magnético para mejorar sensibilidad 20 veces que de modelos anteriores. ...

Microsonda electrónica (EPMA)  JXA-8230 Jeol

The JXA-8230, the fifth generation of SuperProbes, is a high resolution, highly stable WD/ED Combined Electron Probe Microanalyzer (EPMA) with a new PC-based operating environment for easy data acquisition and analysis.

The combination of up to 5 wavelength dispersive X-ray spectrometers (WDS) and a newly developed energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) analyzer featuring spectral imaging ...

Thermo Scientific - Scientific Instruments
Espectrómetro Auger (AES) Thermo Scientific - Scientific Instruments
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MICROLAB 350 - Espectrómetro del electrón de taladro

MICROLAB 350 es un espectrómetro de alto rendimiento, de exploración del electrón de taladro (AES) con alta sensibilidad y la resolución de alta energía. La resolución <7 nanómetro de los SEM y la exploración barrenan el trazado (SAM) de la resolución <12 nanómetro.


Detalle del producto

Espectrómetro de ...

Espectrómetro fotoelectrónico rayos X (XPS) Thermo Scientific - Scientific Instruments
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Punta de prueba de la theta - espectrómetro del alto rendimiento ARXPS



La punta de prueba terma de la theta combina tecnología avanzada del monocromador y de la lente y del detector para proporcionar análisis rápido, exacto. Con la capacidad revolucionaria de ARXPS para proporcionar datos angulares simultáneamente sin la inclinación de la muestra




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OMICRON
Analizador de espectro electrónico OMICRON
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Las cosechadoras de CMA 100 un diseño compacto y un alto rendimiento. Monta a un reborde estándar de los CF del nanovatio 100 (6 " OD), y ofrece un mecanismo de contracción integral único para de fácil acceso a la muestra. El análogo así como el pulso que cuenta la detección del modo es posible, proveyendo de señales óptimas incluso las muestras delicadas.

Espectrómetro Auger (AES) OMICRON
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- Diseño dedicado de la lente para la combinación con la columna de los géminis de UHV
- Resolución de energía 0.01% a el 2%
- Detector del canal de MCD 7


Espectrómetro hemisférico del electrón para la espectroscopia de electrón de taladro (AES), y los usos de la microscopia del taladro (SAM) de la exploración. El instrumento se diseña para el uso junto con la columna ...

Espectrómetro de difracción de electrones de baja energía (LEED) OMICRON
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Emitir la energía < del eV 5 a 3.5 keV
LaB6 o filamento thoriated de W
Funcionamiento excelente de AES

La óptica de SPECTALEED es un instrumento de precisión que proporciona de > anchura de la transferencia 250 Å (en el eV 100), y particularmente patrones brillantes de LEED. El nuevo NG compacto LEED de la fuente de alimentación combina la operación manual de LEED y ...

CAMECA
Microsonda electrónica (EPMA)  SXFive CAMECA
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SX 100

Analizador micro de la punta de prueba de electrón para los materiales y Geosciences

Combinando la óptica de electrón avanzada, diseño avanzado del espectrómetro y software dedicado, el CAMECA SXFive realiza microanálisis químico cualitativo y cuantitativo de la alta exactitud en la metalurgia de la geoquímica, de la mineralogía, de la geocronología, física y nuclear, ciencias ...

Microsonda electrónica (EPMA)  Shielded SX CAMECA
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Punta de prueba de electrón blindada MicroAnalyzer para las muestras radiactivas

El SX blindado se ha desarrollado específicamente para manejar y para analizar muestras radiactivas (eg. combustibles nucleares) que emiten radiaciones gammas hasta 3 curies en 0.75MeV. De acuerdo con la arquitectura de SXFive y de SXFiveFE, el Shieldede SX se equipa más a fondo de espectrómetros blindados de ...

Microsonda electrónica (EPMA)  SXFiveFE CAMECA
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Analizador micro de la punta de prueba de electrón de la emisión de campo para el análisis cuantitativo y radiografía que traza en la resolución espacial más alta posible

El SXFiveFE es microanalyzer de la punta de prueba de electrón de la generación de CAMECA quinto. Reúne todas las mejores características de los modelos anteriores de EPMA de CAMECA e incorpora un número de características ...

Physical Electronics Inc.
Espectrómetro Auger (AES)  PHI 700Xi Physical Electronics Inc.
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Taladro Nanoprobe de la PHI 700
Descripción

El taladro de exploración Nanoprobe de la PHI 700 proporciona el alto análisis espectral del taladro del rendimiento (AES), proyección de imagen del taladro, y farfulla el perfilado de la profundidad de materiales complejos incluyendo: nanomaterials, catalizadores, metales, y dispositivos electrónicos.

La fuente del electrón de la emisión ...

Espectrómetro fotoelectrónico rayos X (XPS)  PHI Quantera II Physical Electronics Inc.
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Descripción

El Quantera, microsondeo electrónico de la radiografía de la exploración de la generación de la PHI segunda proporciona la sensibilidad y la filetea necesario para aplicar el análisis superficial de XPS a una gama más amplia de actual y el análisis futuro del desarrollo de productos y de la falta necesita. La espectroscopia del micro-área del alto rendimiento, profundidad de XPS ...

Espectrómetro fotoelectrónico rayos X (XPS)  PHI VersaProbe Physical Electronics Inc.
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La PHI 5000 VersaProbe es un instrumento de análisis de la superficie de la multi-técnica basado en la tecnología acertada del microsondeo electrónico de la radiografía de la exploración de la PHI alto -. Esta tecnología proporciona la espectroscopia del micro-área del alto rendimiento XPS, proyección de imagen química, y la proyección de imagen del electrón secundario con una trama exploró la viga ...

LK Technologies
Analizador de espectro electrónico   MINICMA™ LK Technologies
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Las tecnologías de LK están satisfechas para introducir la última adición a su gama de analizadores de la energía de electrón. El CMA2000 es un analizador versátil, double-pass de la energía que cabe los requisitos de espacio apretados (diam. 1.35 adentro. (35m m)) y ofertas la capacidad de contraer 4.0 adentro. (100 milímetros) por medio de un alimentador a través del movimiento linear.

Características ...

Cañón de electrones para aplicaciones de análisis superficial  Models EG3000 LK Technologies
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El arma de electrón 3000 del modelo de las tecnologías de LK EG. con electrónica de control que empareja es conveniente para una variedad de usos superficiales del análisis tales como espectroscopia de electrón de taladro, los experimentos de la dispersión de electrón y de la difracción, y neutralización de la carga. La energía del haz electrónico se puede variar continuamente a partir de 0.1-3 keV. ...

Espectrómetro Auger (AES) LK Technologies
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Sistema que combina ELS3000 con el compartimiento de crecimiento del diamante del CVD y el otro análisis incluyendo LEED/Auger, QMS.

RBD Instruments Inc
Cañón de electrones para aplicaciones de análisis superficial  20 µA | NTI 1401 RBD Instruments Inc
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El arma 1401 de ion del modelo NTI es ideal para el uso en los experimentos superficiales de la química tales como preparación y profundidad de la muestra que perfilan con el taladro y XPS. Puede ser utilizado con la mayoría de los gases inertes.

Con una corriente de la viga del µA 20 en un punto del diámetro de 0.4m m en una distancia de funcionamiento de 25 milímetros, el arma puede entregar ...

Cañón de electrones para aplicaciones de análisis superficial  2 - 20 µA | NTI 1407 RBD Instruments Inc
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El arma 1407 de ion del modelo NTI ofrece el funcionamiento de Duoplasmatron en un arma de ion de la ionización de impacto del electrón. Por medio de aberturas cambiables en la columna de la óptica, una amplia gama de las corrientes de la viga y los tamaños de punto pueden ser obtenidos. En una energía de la viga de 5 keV, emitir la corriente puede ser ajustado a partir de 2 UA en un punto del diámetro ...

Cañón de electrones para aplicaciones de análisis superficial  2 kV | IG2 RBD Instruments Inc
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PHI compatible: La fuente de ion de RBD 04-165 es permutable con los armas de ion de la PHI 04-161 y 04-162. El control de fuente de ion de RBD 32-165 es permutable con el control de la PHI 20-045. Consecuentemente, el modelo 04-165 de RBD trabaja con la PHI 20-045, y los armas de ion de la PHI 04-161 y 04-162 funcionan con el modelo 32-165 de RBD.

Teoría: El 04-165 modelo rellena fuente ...

VG Scienta
Analizador de espectro electrónico VG Scienta
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Descripción general:

Con las características como una raja de la entrada de 0.1 milímetros y 1 eV pasar energía las demandas del espectrómetro R4000WAL-0.1 la mejor resolución de energía en el mercado. Este analizador granangular de la aceptación es totalmente equipado para los estudios de XPS, de la UPS, y de ARPES con las tablas de la lente para la descripción y los modos angulares y de ...

Espectrómetro de fotoemisión con resolución angular (ARPES)  ARTOF 10k VG Scienta
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él ARTOF 10k es un nuevo analizador ultra de alta resolución de la energía de electrón para el 2.o trazado rápido de la venda. El diseño del instrumento combina el tubo del vuelo de una época del espectrómetro del vuelo con la óptica de electrón del VG Scienta y se convierte en un espectrómetro por la época Resolved angular de las medidas (ARTOF) del vuelo. Requiere una fuente pulsada del fotón con ...

OCI Vacuum Microengineering
Cañón de electrones para aplicaciones de análisis superficial  G10 Series OCI Vacuum Microengineering
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Características:

Diseño miniatura de la lente
Diámetro variable de la viga
Energía variable de la viga
Tarifa baja de la desgasificación
Configuración flexible del montaje

Controlador para espectrómetro de difracción de electrones de baja energía (LEED) OCI Vacuum Microengineering
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Modelo LPS075-D

Regulador compacto para el uso de LEED compatible
con BDL800/600/450 y la mayoría de la óptica comercial de LEED

Espectrómetro Auger (AES)  50 pA | Models BDL800IR-MCP OCI Vacuum Microengineering
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AES CON LA ENERGÍA DEL AUMENTO DE LAS PLACAS DE MICROCANAL

Modelos BDL800IR-MCP y BDL600IR-MCP

Características:

Alta sensibilidad en la corriente primaria de la viga - 50pA de la imagen
Escoger/doblarse las placas de microcanal de 75 milímetros
Arma de electrón miniatura con la concentración doble
AES en el µA de la corriente 50 de la viga - 10µA
Movimiento ...

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