Los emplear tableros siguientes del microscopio de la generación TM3000 el éxito de su precursor, el TM-1000, y ofertas mejoraron perceptiblemente funcionamiento, incluyendo la ampliación hasta 30,000x y una mejor resolución, en una unidad que ocupa el 20% menos espacio y tiene un diseño ahorro de energía. El nuevo TM3000 es un microscopio electrónico variable tablero de exploración de la presión, ...
El nuevo HT7700 microscopio electrónico de la transmisión de 120 kilovoltios se diseña para la investigación y el R&D biomédicos para los materiales farmacéuticos, avanzados y la nanotecnología. El HT7700 revolucionario se optimiza para la proyección de imagen del alto contraste en las dosis bajas del electrón y se fija para hacer vida mucho más fácil para los microscopistas con la integración ...
El S-3700N es una presión variable analítica SEM del compartimiento grande, ofreciendo la flexibilidad analítica extraordinaria combinada con proyección de imagen del alto rendimiento. Los 5 que el eje controlado por ordenador motorizó la etapa con -20° a la inclinación de +90° pueden manejar especímenes hasta 300 milímetros de diámetro y hasta 110 milímetros de alto. El compartimiento grande tiene ...
The Dimension FastScan™ Atomic Force Microscope (AFM) delivers, for the first time, extreme imaging speed without loss of resolution, loss of force control, added complexity, or additional operating costs. Based upon the highly successful Dimension Icon® AFM architecture, the FastScan AFM is a tip-scanning system that provides measurements on both large and small size samples in air or fluids. Now, ...
N8 ARGOS
N8 ARGOSAFM/SPM la manera fácil
El N8 ARGOS es un acuerdo y un soporte alto rígido para el sistema de NANOS AFM/SPM. Equipado ultra de una etapa vertical de la precisión el AFM se acerca con exactitud del nanómetro. Los algoritmos sofisticados proporcionan un acercamiento liso y apacible de la punta de prueba. La extremidad accidental a la muestra entra en contacto con adentro ...
The BioScope™ Catalyst™ Atomic Force Microscope (AFM) with ScanAsyst™ provides uncompromised high-resolution optical imaging capability and thermally limited force measurements and features numerous hardware and software features that make it easier than ever to realize the unique benefits of combining atomic force microscopy and light microscopy. Bruker's exclusive Microscope Image Registration and ...
Microscopia correlativa
“ Lanzadera y Find” es un interfaz correlativo para la luz y los microscopios electrónicos y proporciona una manera directa de combinar las ventajas de la microscopia ligera con las funcionalidades extensas de los microscopios electrónicos delanteros de la exploración del borde, por ejemplo espectroscopia de radiografía dispersiva de la energía.
Los ...
El toner de Axio combina el diseño óptico para la calidad sin precedente de la imagen en microscopia del brightfield así como todas las técnicas relevantes del contraste, incluyendo el contraste diferenciado circular de interferencia (C-DIC) que permite proyección de imagen de las estructuras diferentemente alineadas del objeto con calidad sin igual de la imagen. La trayectoria luminoso reflejado ...
The JIB-4501 is a multi beam SEM-FIB system capable of surface/internal 3D imaging and analysis in a single unit. Featuring an optimum design, the system supports a complete operation from FIB milling to SEM imaging to various analysis including EDS and EBSD.
Features
* High performance LaB6 SEM + High performance/high probe current FIB
* Simple operation of surface/internal ...
JEOL ha desempeñado un papel determinante en el desarrollo y la evolución de la microscopia electrónica de la exploración desde el principios de los 60. Durante las últimas cinco décadas, los SEM se han convertido en una herramienta imprescindible en la investigación avanzada y el análisis de rutina para la ciencia y la industria. JEOL ha instalado más de 8000 SEMs por todo el mundo.
SEMs ...
El JSM-6510 es un costo de alto rendimiento, bajo, microscopio electrónico de exploración para la caracterización rápida y proyección de imagen de estructuras finas. Uno de los modelos de los SEM de la familia de cuatro miembros que son ampliamente utilizados en todos los campos de la investigación y usos industriales, el JSM-6510 permite la observación de especímenes hasta 150m m en diámetro.
A ...
MERLIN™
Energía analítica para el mundo del Secundario-Nanómetro
- Analytics nano
- Información total
- Facilidad del uso
- Futuro confiado
MERLIN™ - análisis y alta resolución en uno
El MERLIN FE-SEM supera el conflicto entre la resolución de la imagen y la capacidad analítica. La base de MERLIN es la columna realzada de los GÉMINIS II que, ...
AURIGA®
Información más allá de la resolución
- Proyección de imagen única
- Analytics avanzado
- Proceso exacto
- Futuro confiado
¿Trabajando con su muestra cubre más que apenas la proyección de imagen de la superficie? ¿Usted también quisiera saber sobre la composición química o la morfología de su muestra? ¿Es usted objetos curiosos sobre características profundizadas ...
Serie SEM de EVO® mA y del LS
Conducido por usos
La serie SEM de EVO® se ha desarrollado para proveer de usuarios en análisis y ciencias de la vida de materiales los microscopios diseñados para emparejar sus necesidades. Ambas series de los microscopios comparten algunas características dominantes.
Características dominantes
- Geometría principal de la radiografía de ...
Hoy, con la culminación de más de 20 años de experiencia, la óptica de Bruker ofrece infrarrojo avanzado y los microscopios de Raman. RamanScopeIII se basa en una generación siguiente, la plataforma "híbrida" que puede acomodar longitudes de onda múltiples de la excitación de Raman. El nuevo sistema de RamanScopeIII se puede juntar al módulo completamente digital de alcance múltiple de Pie-Raman de ...
Microscopio dispersivo de SENTERRA Raman
El SENTERRA es un espectrómetro del microscopio de Raman del alto rendimiento diseñado
para los usos analíticos y de la investigación más exigentes. Su innovación más importante es ciertamente su calibración continua interna pues asegura la exactitud más alta del wavenumber sin la necesidad de calibraciones con estándares externos.
The Panasonic UA3P profilometer series is designed to measure aspherical lenses & molds, semiconductor wafers, and any other precision component requiring nanometer level accuracy ranging up to 200mm x 200mm. Different machine models are available to meet your optical & high aspect ratio metrology needs.
The UA3P-300, UA3P-4 and UA3P-5 all offer users the accuracy of AFM technology ...
Rugosímetro de Panasonic UA3P-L
El UA3P-L nuevamente introducido mide las superficies verticales de la pared de objetos y la superficie interior de los agujeros del micrón-nivel. Los usos que requerían la alta metrología del cociente de aspecto (DAÑO), por ejemplo los orificios del inyector de combustible, micro-clasificaron los engranajes, y los patrones de la característica del semiconductor ...
Benchtop SEM de NeoScope
El benchtop SEM de NeoScope complementa económicamente los microscopios ópticos y SEMs tradicional. El NeoScope hace fácil obtener altas imágenes de la ampliación con la profundidad del campo de alta resolución y grande usando un microscopio que sea tan simple funcionar como cámaras digitales, pero tiene la óptica de electrón de gran alcance del los SEM.
Si es utilizado ...
Navitar es abastecedor principal de las herramientas fluorescentes micro y macras de la proyección de imagen diseñadas para la detección y la observación de la microscopia de fluorescencia. Navitar’ las herramientas ópticas comprensivas de s entregan los detalles finos de los órganos, tejidos y viven las células con brillo, la resolución y la precisión sin precedentes.
Nuestros ...
Microscopio de DXR Raman
El microscopio científico termo de DXR Raman provee de la microscopia de Raman del punto y del lanzamiento sensibilidad excepcional y de la resolución espacial para los usos de trabajo.
El microscopio científico termo de DXR Raman redefine totalmente el microscopio de Raman de modo que cubra las demandas de laboratorios ocupados. Sin sacrificar funcionamiento, hemos ...
X-RayMicroanalysis: Alto rendimiento de procesamiento, exactitud impecable y ningunos compromisos
Ofreciendo sistemas de alta resolución de los detectores de la radiografía del EDS y del microanálisis de radiografía diseñó para el alto-rendimiento de procesamiento, facilidad de empleo, y las respuestas comprensivas, así como sistemas de WDS y de EBSD, las ofertas científicas termas de Fisher ...
Positioner/explorador de alta precisión para los objetivos del microscopio
P-725.2CL con la opción P-721.12Q de QuickLock para W0.8 x 1/36 " hilos de rosca y objetivo (adaptador y objetivo de QuickLock no incluidos)
Gamas del recorrido al µm 460
Una respuesta perceptiblemente más rápida y un curso de la vida más alto que Z-Etapas motorizadas
Exploraciones y objetivos ...
Comprable, Investigación-Grado AFM con la dirección flexible de la muestra
Una extensión económica del XE-100, el XE-70 es solución del AFM de los sistemas del parque nueva' para los clientes conscientes del presupuesto. Teniendo un diseño mecánico compacto, el XE-70 continúa la tecnología innovadora de las XE-series que los sistemas él aparte de el AFM convencional. El XE-70 comparte los ...
Data accuracy is of paramount importance to nanotechnology researchers as the credibility of their research depends upon accurate results. The NX10, the world’s most accurate AFM, is the flagship AFM of Park Systems’ new product line. The NX10 brings unparalleled imaging accuracy, scan speeds, and tip life to the next generation of researchers, all at an affordable price. The NX10 is the world’s premium ...
El XE-200 es un AFM con la capacidad creciente que apoya 200 milímetros de investigación de la oblea. Además de la exploración exacta el funcionamiento proporcionó por el modo sin contacto verdadero, los usuarios de las ofertas XE-200 una etapa XY codificada que viaja sobre los 200 milímetros enteros x 200 milímetros de área de la muestra, una gama XY agrandada de la exploración de 200 μ ...
Con el uso de la reconstrucción de la aspereza 3D, el fenómeno puede generar imágenes y medidas tridimensionales de la aspereza del submicrometer.
Este uso completamente automatizado para el microscopio electrónico de exploración del fenómeno ayudará a comunicar resultados de la proyección de imagen y extraerá y visualizará datos ocultado normalmente dentro de una muestra.
3D
la ...
Un análisis mejor, más rápido de la fibra
Ahora, observación directa y medida del micr3ofono y
las fibras nanas son más rápidas, mejores y más fácilmente que nunca antes, con
el uso mejorado de Fibermetric.
Conjuntamente con el Phenom™ El favorable microscopio electrónico de escritorio de exploración G2, el uso de Fibermetric permite que usted presente la información ...
El Phenom G2 puro es una herramienta ideal para hacer la transición del trabajo con un microscopio ligero a funcionar un microscopio electrónico. El Phenom G2 puro se equipa de los componentes básicos para las necesidades de la proyección de imagen de la reunión.
El Phenom G2 puro proporciona las imágenes de alta calidad mientras que usa características básicas, y ofrece el tiempo más ...
El XploRA es un nuevo concepto en la microscopia de Raman, trayendo a Raman la identificación química directo a su microscopio. El XploRA se puede juntar a los microscopios verticales e invertidos, permitiendo el análisis de todos los tipos de la muestra, extendiéndose de los semiconductores y de los nano-materiales, a través a las células y a los tejidos biológicos.
El sistema proporciona ...
Los sistemas de LabRAM hora proporcionan la alta resolución espectroscópica y una capacidad única de la gama de longitud de onda que ofrezca gran flexibilidad y alto rendimiento. Son ampliamente utilizados para el análisis estándar de Raman, el photoluminescence (PL), Raman realzado extremidad que dispersa (TERS) y otros métodos híbridos.
El XGT-7000 representa totalmente una nueva generación de microscopio de XRF, y lleva la manera a una nueva era de ciencia. Ofrece una fusión inconsútil entre la observación óptica y las funciones del análisis elemental, revolucionando el mundo del microanálisis y del establecimiento micro-XRF como herramienta rutinaria para la investigación y el científico analítico.
Las características ...
