El PHE101 es el último ellipsometer discreto de la longitud de onda con muchas nuevas características, tales como biblioteca de los materiales, ángulo variable más amplio, un segundo laser para la alineación y software muy de gran alcance que hace el instrumento la exactitud más alta y la repetición.
* Exactitud y repetición excelentes
* Operación giratoria rápida del analizador.
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PHE101M es ellipsometer de la multi-longitud de onda. El cliente puede seleccionar diversas longitudes de onda de la gama ULTRAVIOLETA, del VIS o de NIR (hasta 5 longitudes de onda). El PHE101M tiene todas las características que PHE101 tenga.
* Cinco longitudes de onda extendidas máximas
* Longitud de onda auto del cambio para la operación fácil
* Precisión y repetición excelentes
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* Medida muy rápida en la gama 250 - 1100 nanómetro de UV/VIS con el espectrómetro de array de diodos del detector o del motor (monocromador)
* Extensión opcional de la gama espectral en el NIR (700 - 1700 nanómetro) o (700 - 2100 nanómetro)
* Extensión opcional de la gama de UV-VIS (190 - 1100 nanómetro)
* El polarizador giratorio proporciona la medida exacta de cualquier ...
El paso adelante siguiente en la proyección de imagen Ellipsometry con el nanofilm_ep3sw.
La sola longitud de onda nanofilm_ep3sw.is un sistema de gran alcance a conseguir comenzó con la proyección de imagen Ellipsometry.
¡La proyección de imagen permite que usted tenga una opinión directa sobre la muestra!
Usted verá una imagen directa de su muestra de la CCD-cámara fotográfica.
Esta ...
PHE101M es ellipsometer de la multi-longitud de onda. El cliente puede seleccionar diversas longitudes de onda de la gama ULTRAVIOLETA, del VIS o de NIR (hasta 5 longitudes de onda). El PHE101M tiene todas las características que PHE101 tenga.
El PHE101M es un ellipsometer discreto ideal de la longitud de onda diseñado para medir el índice de refracción y el grueso de películas solas y de ...
PHE 102 Ellipsometer espectroscópico
Características
* Medida muy rápida en la gama 250 - 1100 nanómetro de UV/VIS con el espectrómetro de array de diodos del detector o del motor (monocromador)
* Extensión opcional de la gama espectral en el NIR (700 - 1700 nanómetro) o (700 - 2100 nanómetro)
* Extensión opcional de la gama de UV-VIS (190 - 1100 nanómetro)
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Ellipsometer de la modulación del cristal líquido
Proporciona los datos elipsométricos clásicos y la matriz completa de Mueller de 16 elementos
Capacidad realzada del uso para la caracterización de muestras de despolarización y anisotrópicas
Diseño modular
Precio competitivo
R&D Ellipsometer espectroscópico de la alta precisión
La gama del ellipsometer de UVISEL ofrece la mejor combinación de modularidad y de funcionamiento para la caracterización avanzada de la película fina, de la superficie y del interfaz.
De acuerdo con tecnología de la modulación de fase, el ellipsometer de UVISEL proporciona un diseño óptico de gran alcance para cubrir continuamente ...
Ellipsometry is a method for determining the refractive index and extinction coefficients of a sample by measuring the change in polarization state of surface reflected light. Film thickness and optical constants of an adsorption layer or oxide film on a substrate surface can be determined with exceptional sensitivity. Conventional interference spectroscopy utilizes light passed through separate optical ...
Ellipsometry espectroscópico es una herramienta de gran alcance para la metrología de la película fina. el omt ejecuta este método en un ellipsometer tablero fácil de utilizar con un diseño óptico y mecánico modular avanzado.
Para las medidas sofisticadas proporcionamos diversas opciones como la extensión de la longitud de onda o las etapas motorizadas para las medidas y las capacidades espacial ...
El 439L633P Ellipsometer manual es un instrumento óptico avanzado.
Mide el cambio en el estado de polarización de la luz monocromática sobre la reflexión de una superficie.
Esta unidad se diseña específicamente para las medidas no destructivas. Utiliza los lasers para medir el grueso y las características ópticas de películas extremadamente finas, o las capas, de material.
Características:
- Altas estabilidad extraordinaria y exactitud debido a la fuente luminosa estable del láser, a la disposición estabilizada temperatura del compensador, al seguimiento del polarizador y al detector ultrabajo del ruido
- Alineación alto exacta de la muestra con el telescopio y el microscopio que coliman autos ópticos
- Medida rápida y cómoda a un solo ángulo ...
