MERLIN™
Energía analítica para el mundo del Secundario-Nanómetro
- Analytics nano
- Información total
- Facilidad del uso
- Futuro confiado
MERLIN™ - análisis y alta resolución en uno
El MERLIN FE-SEM supera el conflicto entre la resolución de la imagen y la capacidad analítica. La base de MERLIN es la columna realzada de los GÉMINIS II que, ...
SIGMA - microscopia analítica avanzada - ahora disponible con tecnología de VP
La SIGMA, ofreciendo tecnología de GEMINI® proporciona proyección de imagen excepcional y resultados analíticos de un microscopio de emisión de campo.
La SIGMA está disponible ahora con la tecnología variable (VP) de la presión para la proyección de imagen y el análisis excepcionales del espécimen non-conductive. ...
La respuesta a los desafíos nanos modernos de la ciencia es la columna única de los SEM de la emisión de campo de GEMINI®, una solución sofisticada reconocida por los microscopistas por todo el mundo como el líder. El nuevo SUPRA™ la serie, basada en la 3ro columna de la generación GEMINI®, ofrece una gama completa de modelos ultra de alta resolución de FESEMs para cubrir todos los campos ...
El S-3700N es una presión variable analítica SEM del compartimiento grande, ofreciendo la flexibilidad analítica extraordinaria combinada con proyección de imagen del alto rendimiento. Los 5 que el eje controlado por ordenador motorizó la etapa con -20° a la inclinación de +90° pueden manejar especímenes hasta 300 milímetros de diámetro y hasta 110 milímetros de alto. El compartimiento grande tiene ...
Fucntions automáticos revolucionarios del eje-aligment (ajuste auto de la viga, Aligment axial auto, ect.)
Incluso una mejor resolución de 10nm en 3kV
Exhibición de imagen y mezcla en tiempo real, duales de la señal
el eje 5 motorizó la etapa con la alta inclinación (- el ~ 20 +90 grados.) una muestra alta hasta alto aplicable de 80m m (tipo - 2)
Compartimiento analítico del espécimen ...
Somos orgullosos presentar nuestra NUEVA solución versátil para los propósitos analíticos conjuntamente con la Ultra-Alto-Resolución y capacidades amplias de la selección de la señal.
The JSM-7600F is a stateof- the-art thermal FE-SEM that successfully combines ultrahighresolution imaging with optimized analytical functionality. In addition, the JSM-7600F incorporates a large specimen chamber. This uniquely designed chamber, which accommodates a 200 mm diameter specimen, is optimized for a large variety of detectors for secondary electrons, backscattered electrons, EDS, WDS, EBSD, ...
El JSM-6701F es un microscopio electrónico de exploración de la emisión de campo (FESEM) que incorpora un arma frío de la emisión de campo del cátodo, un vacío ultra alto, y tecnologías digitales sofisticadas para la proyección de imagen de alta resolución de la alta calidad de estructuras micro. Ofreciendo un arma cónico del FE y una lente objetiva de la semi-en-lente, el sistema es capaz de proyección ...
El JSM-7500F es una emisión de campo analítica SEM que ofrece funcionamiento realzado, la comodidad de uso, y el rendimiento energético. El JSM-7500F ofrece la resolución más alta en el kilovoltio más bajo de cualquier SEM disponible, alcanzando una resolución de 1.4 nanómetro en 1 kilovoltio. El JSM-7500F proporciona el funcionamiento de la en-lente (1.0nm en 15kV) pero puede manejar muestras hasta ...
Apollo 300
Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.
Modelos del patrón 500
Cátodo del tungsteno de X500S
Emisión de campo de X500FE Schottky
Modelo
X500S X500FE
Opciones del cátodo
FE del tungsteno (w) Schottky
Resolución de SEI en
Alto vacío.
<3.5nm @ 30kV <1.5nm @ 25kV
Voltaje de aceleración
patrón 40kV
50kV patrón de la opción 25kV
opción 30kV
