Microscopios acústicos de barrido SAM

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microscopio polarizante
microscopio polarizante
ECLIPSE LV100N POL

Peso: 17 kg
Largo: 490 mm
Ancho: 251 mm

La serie de microscopios polarizadores ECLIPSE LV100N POL y Ci-POL se utiliza para estudiar las propiedades birrefringentes de especímenes anisotrópicos al observar el contraste de la imagen y los cambios de color. Nikon ...

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microscopio óptico
microscopio óptico
Eclipse LV100ND

Peso: 9,5 kg
Largo: 362 mm
Ancho: 251 mm

... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos ...

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microscopio acústico de barrido SAM
microscopio acústico de barrido SAM
AMOS

... Parámetros mecánicos: Resolución XYZ: 1 μm Área de trabajo: 400x400x200 mm Velocidad de viaje: 500 mm/s Velocidad de exploración: de 20 mm/s a una frecuencia de 50 MHz Juego de bandejas ajustables con portamuestras ...

microscopio acústico de barrido SAM
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AM 300

... La Línea SAM ofrece microscopios acústicos de barrido fáciles de usar para el control de procesos y el aseguramiento de la calidad, así como para aplicaciones de investigación. ...

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microscopio para análisis
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SAM 300 E

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microscopio acústico de barrido SAM
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SAM 300

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microscopio acústico de barrido SAM
microscopio acústico de barrido SAM
SAM 300 TWIN

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microscopio para análisis
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SAM 400

... El SAM 400 es una herramienta de alto rendimiento que permite realizar investigaciones acústicas no destructivas para aplicaciones dedicadas a análisis de alto rendimiento, control de calidad e investigación. ...

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microscopio para análisis
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SAM 400 TWIN

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microscopio acústico de barrido SAM
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SAM 400 QUAD

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microscopio acústico de barrido SAM
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SAM 1000/2000

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microscopio acústico de barrido SAM
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SAM 1000/2000

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microscopio para oblea
microscopio para oblea
SAM 300 AUTO WAFER

... La SAM 300 AUTO WAFER es una línea de productos desarrollada para el control en línea de la producción de obleas encoladas. Es compatible con sala limpia clase 10. La aplicación principal es la detección de vacíos, inclusiones ...

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microscopio electrónico de barrido
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ECHO VS™

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Sonix
microscopio industrial
microscopio industrial
ECHO PRO™

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microscopio óptico
microscopio óptico

... La característica única de la microscopía acústica de barrido es su capacidad de examinar no destructivamente el interior de materiales opacos con la resolución de la microscopía ...

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