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Resolución espacial: 3, 8, 7 nm
Peso: 10 kg
... Instrumento SEM EDS flexible, fácil de usar y que ofrece un análisis elemental cuantitativo instantáneo. Imágenes SEM y análisis elemental EDS Aunque la microscopía electrónica ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,7, 1, 0,6 nm
... Caracterización por microscopía electrónica de barrido de nanomateriales con resolución subnanométrica y alto contraste del material. Microscopio electrónico ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 1,3, 1, 0,8, 3 nm
... Microscopio electrónico de barrido ambiental (ESEM) para el estudio de materiales en estado natural. Microscopio electrónico de barrido ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador ...
Aumento: 6 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 4, 5, 15 nm
... estaba disponible en un SEM de tamaño completo. Este microscopio electrónico de barrido funciona con energía limpia para obtener una herramienta analítica económica, ...
Aumento: 10 unit - 25.000.054 unit
Peso: 54 kg
Largo: 614, 617 mm
... serie TM4000 presenta innovación y tecnologías de vanguardia que redefinen las capacidades de un microscopio de mesa. Esta nueva generación de microscopios de sobremesa Hitachi (TM) de larga tradición ...
... En un entorno de calidad industrial, análisis de fallos o investigación, el microscopio electrónico de barrido (SEM) es la solución de elección para aplicaciones de metalografía y análisis ...
ZEISS Industrial Metrology
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 3, 4, 8 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene una excelente calidad de imagen, compatibilidad con el modo de bajo vacío, ...
Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 0,6 nm
Peso: 400 kg
... SEM5000X es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM) de resolución ultraalta con resolución de 0,6 nm@15 kV y 1,0 nm@1 kV. Gracias a la mejora del proceso de ...
La familia ZEISS Sigma combina la tecnología del microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FE-SEM) con una excelente experiencia de usuario. Organice sus rutinas de análisis ...
ZEISS Métrologie industrielle
Aumento: 3.500 unit - 100.000 unit
... El JSM-7900F es el nuevo FE-SEM insignia de JEOL que combina imágenes de altísima resolución, estabilidad mejorada y excepcional facilidad de uso para cualquier nivel de operador en entornos polivalentes. Neo Engine（Nuevo motor óptico ...
Jeol
El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de 4ta generación VEGA de TESCAN con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM con análisis de composición ...
Tescan GmbH
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 3 nm
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