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Resolución espacial: 20 nm
... Microscopía sensible a la superficie 20 nm Resolución lateral Espectroscopia local imágenes k-Space Fácil de operar Compatible con sistemas MULTIPROBE UHV Un producto FOCUS La Microscopía Electrónica ...
... El microscopio de emisión invertido es un sistema de análisis de la cara posterior diseñado para identificar las ubicaciones de los fallos mediante la detección de la luz y el calor emitidos por los defectos ...
... El microscopio de emisión invertido es un sistema de análisis de la cara posterior diseñado para identificar las ubicaciones de los fallos mediante la detección de la luz y el calor emitidos por los defectos ...
... El PHEMOS-1000 es un microscopio de emisión de alta resolución que localiza los fallos en los dispositivos semiconductores mediante la detección de las débiles emisiones de luz y calor ...
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