Microscopios para semiconductores

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microscopio electrónico de transmisión y barrido
microscopio electrónico de transmisión y barrido
SU9000II

Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... diseño del sistema óptico cuenta con una capacidad de EELS para el análisis avanzado de materiales. El SU9000 es el nuevo SEM premium de HITACHI. Presenta una óptica de electrones única, con la muestra colocada dentro ...

microscopio electrónico de barrido
microscopio electrónico de barrido
SU series

Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm

... Rendimiento y potencia en una plataforma flexible Los microscopios electrónicos de barrido SU3800/SU3900 de Hitachi High-Tech ofrecen operatividad y capacidad de ampliación. El operador puede automatizar muchas operaciones ...

microscopio STEM
microscopio STEM
HF5000

Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm

... fuentes de alimentación ultraestables para mejorar el rendimiento del instrumento - Capacidad de obtención simultánea de imágenes SEM y STEM con corrección de Cs y resolución atómica - Nueva platina y portamuestras de ...

microscopio óptico
microscopio óptico
MX63 series

Resolución espacial: 1 µm

... Los sistemas de microscopios MX63 y MX63L están optimizados para inspecciones de alta calidad de obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito y otras muestras de gran tamaño. Su diseño modular le permite ...

microscopio optodigital
microscopio optodigital
MVM

... El nuevo "Microscopio de Visión Artificial" (MVM) es un microscopio puramente digital con todas las características que hacen a un microscopio. Tiene un objetivo de microscopio ...

microscopio metalográfico
microscopio metalográfico
DS series

... de BF, DF, DIC y POL para los múltiples análisis. Microscopio invertido de nivel inicial para aplicaciones de uso general para ensayos de dureza Microscopio invertido de ciencia industrial y de materiales ...

microscopio óptico
microscopio óptico
ZTX-S series

... El microscopio de zoom de la serie ZTX-S adopta el sistema de imagen óptica, con alta resolución, definición fina y fuerte sentido de la tridimensionalidad, fácil operación. El microscopio es ampliamente ...

microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
microscopio electrónico de barrido de emisión de campo
JSM-F100

Aumento: 10 unit - 2.740.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 1,3 nm

... Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky JSM-F100 El JSM-F100 no sólo incorpora nuestro apreciado cañón de electrones de emisión de campo Schottky Plus y el "Neo Engine" (sistema de control óptico ...

microscopio polarizante
microscopio polarizante
ECLIPSE LV100N POL

Peso: 17 kg
Largo: 490 mm
Ancho: 251 mm

La serie de microscopios polarizadores ECLIPSE LV100N POL y Ci-POL se utiliza para estudiar las propiedades birrefringentes de especímenes anisotrópicos al observar el contraste de la imagen y los cambios de color. Nikon ...

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microscopio para análisis
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SAM 400

... MHz, controlados a través de una interfaz gráfica de fácil manejo. Construido según los estándares de la industria de semiconductores alrededor de una plataforma central que utiliza la última tecnología de producción ...

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PVA TePla Analytical Systems GmbH
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