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Resolución espacial: 0,3 nm - 1,5 nm
Peso: 500 g
... Preparación de muestras para imágenes TEM y STEM o tomografía por sonda atómica. Fácil de usar con automatización avanzada. Capaz de realizar una caracterización 3D del subsuelo de alta calidad. Preparación ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Aumento: 2.000.000 unit
Resolución espacial: 2, 10, 3 nm
... Microscopio electrónico de barrido con cañón de emisión de campo de sobremesa para obtener imágenes de alta calidad en todas las disciplinas. Microscopio electrónico ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Resolución espacial: 0,6, 1,2, 0,7, 1 nm
... Microscopio electrónico de barrido con haz de iones enfocado por plasma para la preparación de muestras TEM, incluyendo la caracterización 3D, el corte transversal y el micromecanizado. El Helios 5 Plasma ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... muestra de entrada lateral ultraestable similar a los sistemas TEM de gama alta e incorpora una amortiguación de vibraciones optimizada y una cabina cerrada para proteger la óptica electrónica del ruido ambiental. ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 0,8 nm
... El SU8700 introduce una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución en la gama de microscopios electrónicos ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
Aumento: 20 unit - 2.000.000 unit
Resolución espacial: 0,7, 0,6 nm
... El SU8600 trae una nueva era de microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo frío de ultra alta resolución a la línea de EM de Hitachi de larga data. Esta revolucionaria plataforma CFE-SEM ...
Hitachi High-Tech Europe GmbH
... En un entorno de calidad industrial, análisis de fallos o investigación, el microscopio electrónico de barrido (SEM) es la solución de elección para aplicaciones de metalografía y análisis de fallos, ...
... MICROSCOPIO DIGITAL PARA MEDICIONES AUTOMÁTICAS DE BRINELL ISO 6506 - ASTM E10 Microscopio electrónico para la medición automática de la indentación Brinell con una bola ...
Aumento: 300.000 unit
Resolución espacial: 3, 4, 8 nm
Peso: 480 kg
... CIQTEK SEM3200 es un microscopio electrónico de barrido de filamento de tungsteno de alto rendimiento. Tiene una excelente calidad de imagen, compatibilidad con el modo de bajo vacío, imágenes de alta ...
CIQTEK Co., Ltd.
Aumento: 1 unit - 2.500.000 unit
Resolución espacial: 1, 1,5, 0,8 nm
Peso: 950 kg
... CIQTEK SEM5000 es un microscopio electrónico de barrido por emisión de campo (FE-SEM, FEG SEM) de alta resolución y con numerosas funciones. Diseño de columna avanzado, tecnología de túnel de alto voltaje ...
CIQTEK Co., Ltd.
Resolución espacial: 0,9, 2,5 nm
CIQTEK SEM4000 es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico analítico equipado con un cañón de electrones de emisión de campo Schottky de larga duración y alto brillo. El diseño ...
CIQTEK Co., Ltd.
... análisis FIB-SEM. Maximice su información de SEM Obtenga información auténtica de la muestra de sus imágenes SEM de alta resolución usando la óptica de electrones Gemini. Confíe en el ...
ZEISS Métrologie industrielle
... enfriamiento de nitrógeno líquido de entrada lateral y un sistema de intercambio de muestras automatizado, es un criomicroscopio electrónico (cryo-EM) que permite la observación de biomoléculas a criotemperatura. El sistema ...
Jeol
Resolución espacial: 20 nm
... Microscopía sensible a la superficie 20 nm Resolución lateral Espectroscopia local imágenes k-Space Fácil de operar Compatible con sistemas MULTIPROBE UHV Un producto FOCUS La Microscopía Electrónica ...
Aumento: 1.000.000 unit
Resolución espacial: 3 nm
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