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Analizador

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LTB Lasertechnik Berlin GmbH
Analizador de materiales por espectrometría de plasma inducido por láser (LIBS) LTB Lasertechnik Berlin GmbH
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Analizador material mA 300

Start-up rápido
Vida de funcionamiento larga
Sellado totalmente
Acuerdo y rugoso

Hitachi High-Technologies Europe
Microscopio electrónico de barrido para análisis con presión variable (VP FE-SEM)  S-3700 Hitachi High-Technologies Europe
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El S-3700N es una presión variable analítica SEM del compartimiento grande, ofreciendo la flexibilidad analítica extraordinaria combinada con proyección de imagen del alto rendimiento. Los 5 que el eje controlado por ordenador motorizó la etapa con -20° a la inclinación de +90° pueden manejar especímenes hasta 300 milímetros de diámetro y hasta 110 milímetros de alto. El compartimiento grande tiene ...

Microscopio electrónico de campo de emisión y barrido para transmisión (FA-STEM) para análisis  HD-2700 Hitachi High-Technologies Europe
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El HD-2700 es la tapa del VÁSTAGO de la gama, ofreciendo el Cs opcional de la corrección de la aberración esférica (desarrollado en colaboración con los CEOs GmbH) para ofrecer la resolución perceptiblemente mejorada y la sensibilidad analítica. El HD-2700 corregido Cs puede alcanzar una resolución de 0.144 nanómetros en modo del VÁSTAGO del oscuro-campo. El HD-2700 tiene usos en la ciencia material, ...

Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido para análisis con presión variable (VP FE-SEM)  SU6600 Hitachi High-Technologies Europe
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Fucntions automáticos revolucionarios del eje-aligment (ajuste auto de la viga, Aligment axial auto, ect.)
Incluso una mejor resolución de 10nm en 3kV
Exhibición de imagen y mezcla en tiempo real, duales de la señal
el eje 5 motorizó la etapa con la alta inclinación (- el ~ 20 +90 grados.) una muestra alta hasta alto aplicable de 80m m (tipo - 2)
Compartimiento analítico del espécimen ...

Carl Zeiss Nano Technology Systems
Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido (FE-SEM) para análisis  MERLIN Carl Zeiss Nano Technology Systems
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MERLIN™
Energía analítica para el mundo del Secundario-Nanómetro

- Analytics nano
- Información total
- Facilidad del uso
- Futuro confiado

MERLIN™ - análisis y alta resolución en uno
El MERLIN FE-SEM supera el conflicto entre la resolución de la imagen y la capacidad analítica. La base de MERLIN es la columna realzada de los GÉMINIS II que, ...

Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido para análisis con presión variable (VP FE-SEM)  ΣIGMA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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SIGMA - microscopia analítica avanzada - ahora disponible con tecnología de VP

La SIGMA, ofreciendo tecnología de GEMINI® proporciona proyección de imagen excepcional y resultados analíticos de un microscopio de emisión de campo.

La SIGMA está disponible ahora con la tecnología variable (VP) de la presión para la proyección de imagen y el análisis excepcionales del espécimen non-conductive. ...

Thermo Scientific - Scientific Instruments
Sistema di micro análisis de rayos X  NORAN System 7 Thermo Scientific - Scientific Instruments
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X-RayMicroanalysis: Alto rendimiento de procesamiento, exactitud impecable y ningunos compromisos

Ofreciendo sistemas de alta resolución de los detectores de la radiografía del EDS y del microanálisis de radiografía diseñó para el alto-rendimiento de procesamiento, facilidad de empleo, y las respuestas comprensivas, así como sistemas de WDS y de EBSD, las ofertas científicas termas de Fisher ...

Jeol
Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido (FE-SEM) para análisis  JSM-6701F Jeol
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El JSM-6701F es un microscopio electrónico de exploración de la emisión de campo (FESEM) que incorpora un arma frío de la emisión de campo del cátodo, un vacío ultra alto, y tecnologías digitales sofisticadas para la proyección de imagen de alta resolución de la alta calidad de estructuras micro. Ofreciendo un arma cónico del FE y una lente objetiva de la semi-en-lente, el sistema es capaz de proyección ...

Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido (FE-SEM) para análisis  JSM-7500F Jeol
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El JSM-7500F es una emisión de campo analítica SEM que ofrece funcionamiento realzado, la comodidad de uso, y el rendimiento energético. El JSM-7500F ofrece la resolución más alta en el kilovoltio más bajo de cualquier SEM disponible, alcanzando una resolución de 1.4 nanómetro en 1 kilovoltio. El JSM-7500F proporciona el funcionamiento de la en-lente (1.0nm en 15kV) pero puede manejar muestras hasta ...

Microscopio electrónico de campo de emisión mediante barrido (FE-SEM) para análisis  JSM-7001F Jeol
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El JSM-7001F, emisión de campo termal SEM, es la plataforma ideal para exigir usos analíticos así como ésos que requieren la alta resolución y la facilidad de empleo. El JSM-7001F tiene un grande, un eje 5, una etapa completamente eucentric, motorizada, automatizada del espécimen, un bolsa de aire del intercambio del espécimen de la uno-acción, el pequeño diámetro de la punta de prueba incluso en ...

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