Introducciones
El sistema de OS-AA SPM se sabe para su multifuncionalidad y franqueza completa. El sistema de OS-AA es no sólo una plataforma para los experimentos poco convencionales pero también para otros progresos que una facilidad de detección rutinaria.
Características
Milti-función: STM, AFM, LFM, MFM, EFM, modo que entra en contacto con, golpeando ligeramente, fase
Control ...
Introducciones
El microscopio de la punta de prueba de la exploración AA5000 es el modelo innovado. La unidad tiene una cobertura total de SPM TÉCNICA-STM, AFM, LFM AFM conductor, MFM, EFM, control del medio ambiente SPM y Nano-Proceso... Y la unidad se diseña para proporcionar imágenes de la escala atómica a 100 micrómetros. Con un procesador de señal numérica (DSP) TMS320C642 dentro de los ...
The Innova atomic force microscope provides more performance and flexibility at a greater value than any other SPM. The proprietary closed-loop scan delivers noise-levels that approach those of high-end, open-loop systems and offers a wide range of functionality for physical, materials, and life sciences, from sub-micron levels up to 90 microns.
El SALTO hora es un microscopio de alto rendimiento de la punta de prueba del átomo que proporciona la resolución atómica, la proyección de imagen compositiva 3D, y el análisis a la investigación y a la industria. Los materiales son examinados quitando y analizando los átomos individuales. Los átomos son quitados por una combinación de un alto campo eléctrico y de cualquiera: (1) un pulso de voltaje ...
El SALTO Si™ El sistema de la metrología es un microscopio de alto rendimiento de la punta de prueba del átomo que proporciona 3D, la resolución atómica, la proyección de imagen compositiva y el análisis a la investigación y a la industria. Los materiales son examinados quitando y analizando los átomos individuales. Los átomos son quitados por una combinación de un alto campo eléctrico y ...
LA-WATAP
Punta de prueba Laser-Asistida del átomo 3D para los materiales y los semiconductores
El CAMECA LA-WATAP es una punta de prueba tomográfica del átomo del alto rendimiento (o 3D), proporcionando el trazado elemental atómico cuantitativo de la escala 3D de heterogeneidades químicas en materiales.
El LA-WATAP ofrece las ventajas dominantes siguientes:
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El microscopio de la punta de prueba de la exploración (SPM) fue desarrollado durante los años 80 y ahora es una herramienta imprescindible para el estudio de alta resolución directo de las fuerzas del superficie y superficiales. Comenzando con el microscopio el hacer un túnel de la exploración en 1981, la técnica fue ensanchada a la microscopia atómica de la fuerza incluyendo los modos del contacto, ...
El JSPM-5410 es un microscopio de gran alcance y versátil de la punta de prueba de la exploración que es también fácil de utilizar. El JSPM-5410 ofrece control de exploración de alta velocidad, de seguridad, la colocación simple, la proyección de imagen de alta resolución, y la observación estable de muestras heated/refrescadas en alto vacío.
El JSPM-5410 patentado, AFM sin contacto, utiliza ...
El JSPM-5200 es una facilidad de empleo de ofrecimiento multiusos, de alta resolución de SPM con la medida diversa y ambientes de la muestra. El JSPM-5200 se puede utilizar en varios ambientes nativos -- del aire ambiente, en atmósfera controlada, flúido, o del vacío, con la muestra calentada a 500° C (773K) o refrescada a -143° C (130K). El JSPM-5200 puede también realizar una amplia gama de medidas ...
Características:
De múltiples funciones: AFM, LFM, STM, AFM conductor, MFM y EFM;
Con varios modos de funcionamiento: Modo que entra en contacto con, modo que golpea ligeramente, proyección de imagen de la fase y modo de elevación;
SPM puede estar en líquido;
Detección en tiempo real de la temperatura y de la humedad;
Análisis de la fuerza: IV curva, curva de I-Z, curva ...
El microscopio de la punta de prueba de la exploración AA3000 es nuestro modelo más popular. Esta unidad se adapta hacia los usos de la investigación y de la industria, donde requieren al usuario realizar análisis rápido y simple. El detector se incorpora directo a la base, eliminando la ocasión de dañarla con la dirección. AA3000 es capaz de realizar modo de contacto, microscopia el hacer un túnel ...
El MULTIPROBE P es un sistema de la ciencia UHV de la superficie del dual-compartimiento con un compartimiento grande del análisis de la multi-técnica para la microscopia de la punta de prueba de la espectroscopia de electrón y de la exploración de UHV, y un compartimiento separado de la preparación de la muestra con FEL. Los compartimientos de la preparación en el MULTIPROBE P ofrecen instalaciones ...
