microscopio de investigación / de fuerza atómica / de alta resolución / para nanotecnología
Dimension XR Bruker Nano Surfaces

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Características

  • Aplicaciones técnicas:

    de investigación

  • Tipo:

    de fuerza atómica

  • Otras características:

    de alta resolución, para nanotecnología

Descripción

Los sistemas de microscopios de sonda de barrido Dimension XR (SPM) de Bruker incorporan décadas de investigación e innovación tecnológica para ofrecer el máximo rendimiento, funcionalidad y capacidad en la investigación a nanoescala. La familia de SPMs de investigación extrema (XR) para plataformas FastScan® e Icon® AFM proporciona soluciones empaquetadas únicas para la investigación avanzada en caracterización nanomecánica, nanoeléctrica y nanoelectroquímica. La cuantificación de materiales y sistemas activos a nanoescala en entornos de aire, fluidos, eléctricos o químicamente reactivos nunca ha sido tan fácil.
- Análisis cuantitativo para aplicaciones nanomecánicas
- Caracterización Nanoeléctrica Multi-Dimensional
- Imágenes electroquímicas de barrido de la más alta resolución
- Flexibilidad ilimitada para ampliar su investigación

Traducción automática  (ver el original en inglés)

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