Microscopio de sonda de barrido LEAP 5000 series

para la investigación3D

Microscopio de sonda atómica 3D con un rendimiento analítico de subnanómetros 3D inigualable El LEAP 5000 es un microscopio de sonda atómica vanguardista de CAMECA, lo que le ofrece una eficiencia superior de detección a través de una amplia variedad de metales, semiconductores y aislantes: más del 40 % de átomos extras detectados por nm3 analizado. Descripción general de producto- La LEAP 5000 recopila información a nanoescala desde un conjunto de datos de microescala en solo unas cuantas horas y proporciona una mejorada exactitud composicional, precisión y límites de detección, mejorado rendimiento de muestra junto con una mayor reproducibilidad y producción. La eficiencia de detección optimizada proporciona una sensibilidad inigualable Amplio campo de visión y uniformidad de detección: la máxima resolución espacial 3D Excelente capacidad de detección multiataque para realizar mediciones composicionales de la más alta precisión Tasa de repetición rápida y variable para la adquisición de datos a una velocidad ultra rápida Plataforma sólida y ergonómica para mayor facilidad de uso y menor tiempo de conocimiento Monitoreo en tiempo real para garantizar datos de la más alta calidad en cada medición Los algoritmos avanzados de control del láser proporcionan rendimientos de muestra mejorados de forma medible