Espectrómetro de fluorescencia de rayos X por energía dispersiva (EDXRF)
XDLM® / XDAL® series
FISCHER
Los espectrómetros de XDLM con el tubo micro del foco y el tubo contrario proporcional se satisfacen idealmente para la inspección de las piezas donde se miden las estructuras pequeñas. Los usos típicos son medidas en PC-tableros, contactos del enchufe y componentes electrónicos. Los espectrómetros de XDLM se equipan de cuatro aberturas cambiables y (Z) de una etapa que mide XY programable. Esto los hace satisfechos idealmente para las piezas producidas en serie de prueba.
Los espectrómetros de XDAL con el PERNO detectores del silicio proveen de resultados confiables del análisis y de lecturas de capa del grueso incluso la concentración pequeña y capas muy finas. Con su (Z) etapa que mide XY rápida y altamente exacta, se satisfacen idealmente para las medidas automatizadas de la muestra.
Los espectrómetros de XDAL y de XDLM tienen una estabilidad a largo plazo excelente, que se refleja en un esfuerzo perceptiblemente reducido de la calibración, entre otras cosas.
Usando el método fundamental del parámetro de FISCHER, los sistemas de capa así como muestras sólidas y líquidas pueden ser estándar-libres analizado.
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