Analizador de gas XRF-2000

de metalde concentraciónde emisiones

Características y beneficios: ⊙ Analizando simultáneamente 28 elementos de metales pesados más comunes, otros escalables ⊙ Alta sensibilidad, límite de detección inferior a ng/m ⊙ Medición verdaderamente continua y no destructiva, no se necesita tratamiento previo ⊙ Sin químicos, sin residuos líquidos, fiable y con menos mantenimiento ⊙ 13 patentes del analizador único ⊙ Certificado de seguridad de radiación Los rayos X se usan para expulsar electrones fuertemente sujetos de las órbitas internas del átomo. La eliminación de un electrón de esta manera hace que la estructura electrónica del átomo sea inestable, y los electrones de las órbitas superiores "caen" en la órbita inferior para llenar el agujero dejado atrás. Cada una de estas transiciones produce un fotón fluorescente con una radiación característica igual a la diferencia de energía de la órbita inicial y final. A continuación se analiza la radiación fluorescente separando las longitudes de onda características (cualitativas) y detectando la intensidad de cada radiación característica (cuantitativa).