Maquina de inspección para obleas microelectrónicas
Hamamatsu Photonics
Nuestro saber combinar el diseño óptico confocal avanzado para la varia anchura de banda de la longitud de onda, poseyendo tecnologías de las detecciones de la base tales como InGaAs o los sensores termales, integrando la etapa mecánica exacta y estable extremadamente alta abajo al nivel microprobing, fijan nuestros equipos como el más renombrado del mundo por más de 20 años.
Nuestras herramientas se adaptan para un tipo de arquitectura ancho del nivel del dado o de la oblea, aunque empaquetan o del nivel de tableros de los usos, hasta nivel de la tarjeta de la punta de prueba y dirigen el muelle con el ambiente del probador, permitiendo que nuestros clientes observen defecto paramétrico en condiciones estáticas y/o faltas funcionales en condiciones dinámicas verdaderas.
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