Espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión de energía JED-2300T

para análisisSDD

AnalysisStation JED-2300T es un sistema de integración de TEM/EDS basado en un concepto de "Imagen y Análisis". La gestión de los datos se lleva a cabo mediante la recogida automática de parámetros como el aumento y la tensión de aceleración junto con los datos de análisis. Existen tres tipos de EDS con detector de deriva de silicio (SDD), con un área de detección de 30 mm2, 60 mm2 y 100 mm2 respectivamente. Cuanto mayor sea el área de detección, mayor será la sensibilidad de detección. Al incorporar el Detector Seco SD100GV (área de detección de 100mm2) al JEM-ARM200F (HRP), se consigue simultáneamente una gran área de recepción de luz y una alta resolución, y es posible una clara distinción de los elementos de luz como "B,C,N,O". - Mapeo elemental de alta velocidad El detector seco SD100GV de alta sensibilidad detecta una partícula de catalizador de Au en sólo un minuto de tiempo de medición. - Mapeo de resolución atómica Las columnas atómicas de Sr y Ti están claramente segregadas. - Reproducir Los datos de mapeo elemental adquiridos por el EDS de JEOL conservan el espectro en cada píxel para cada cuadro, junto con las imágenes del haz de electrones. La función "play back" permite realizar análisis multilaterales que incluyen la observación del cambio del espectro a lo largo de un periodo de tiempo. Un fenómeno que se produzca en la muestra, que era imposible de rastrear, puede observarse ahora reproduciendo los datos del análisis. También es posible recortar los fotogramas seleccionados. (Se ha solicitado una patente) Solicitud JED-2300T - Análisis estructural de dispositivos semiconductores mediante tomografía STEM/EDS