La larga y exitosa historia de los difractómetros de investigación de materiales (MRD) de Malvern Panalytical continúa ahora con una nueva generación: X’Pert³ MRD y X’Pert³ MRD XL. El rendimiento y la confiabilidad mejorados de la nueva plataforma han agregado más capacidad analítica y potencia para estudios de dispersión de rayos X en:
• ciencia avanzada de materiales
• tecnología de película fina científica e industrial
• caracterización metrológica en el desarrollo de procesos de semiconductores
Ambos sistemas ofrecen la misma amplia gama de aplicaciones con mapas de oblea completa de hasta 100 mm (X’Pert³ MRD) o 200 mm (X’Pert³ MRD XL).
Flexibilidad del sistema adaptable a los cambios futuros
Los sistemas MRD X'Pert³ ofrecen soluciones avanzadas e innovadoras de difracción de rayos X en la investigación, el desarrollo, el control de procesos y más. Las tecnologías utilizadas hacen que todos los sistemas se puedan actualizar en terreno a todas las opciones existentes y a los nuevos desarrollos en hardware y software futuros.