Analizador de metal X-Strata920
para control de calidadpara la electrónicade espesor de revestimiento

analizador de metal
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Características

Objeto de la medición
de metal
Ámbito de aplicación
para control de calidad, para la electrónica
Mesurando
de espesor de revestimiento
Configuración
benchtop
Tecnología
Fluorescencia de rayos X

Descripción

Analizadores XRF puntuales (Microspot) de grosor de recubrimientos y de materiales para pruebas rápidas de control de la calidad y validación, lo que facilita obtener los resultados correctos en segundos. El análisis de grosor de recubrimientos y de materiales basado en la fluorescencia de rayos X (XRF) es una técnica analítica ampliamente aceptada y probada en la industria, que ofrece un análisis fácil de usar, rápido y no destructivo que requiere poca o ninguna preparación de muestras, capaz de analizar sólidos o líquidos en una amplia gama de elementos de 13Al a 92U en la tabla periódica. Sistema de contador proporcional Gama de elementos: Ti–U Diseño de la cámara: ranurada Opciones de mesa XY: base fija, foso profundo, motorizada Tamaño máximo de muestra: 270 x 500 x 150 mm Cantidad máxima de colimadores: 6 Filtros: 3 Tamaño mínimo de colimador: 0,01 x 0,25 mm (0,5 x 10 milésimas) Software SmartLink

VÍDEO

Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

analytica 2024
analytica 2024

9-12 abr. 2024 München (Alemania) Hall A2 - Stand 422

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    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 abr. 2024 Stuttgart (Alemania)

  • Más información
    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.