Microscopio de fuerza atómica LensAFM

para análisisde medidaspara medición de la rugosidad superficial

Amplíe la resolución de su microscopio óptico El Nanosurf LensAFM es un microscopio de fuerza atómica que continúa donde los microscopios ópticos y los profilómetros alcanzan sus límites de resolución. Se monta como una lente objetiva normal, ampliando así la resolución y las capacidades de medición de estos instrumentos. El LensAFM no sólo proporciona información de topografía de superficie en 3D, sino que también se puede utilizar para analizar varias propiedades físicas de una muestra de medición. Realizar mediciones AFM con el instrumento al que está acostumbrado En un número cada vez mayor de situaciones, los investigadores quieren combinar técnicas de microscopía óptica y de fuerza atómica. La facilidad de uso, la capacidad de cribado y los requisitos de preparación de muestras de los microscopios ópticos son casi inigualables. Sin embargo, a veces un objetivo 100x no es suficiente y le gustaría ver más de cerca algunas pequeñas características que van más allá de la resolución del instrumento. En un entorno de laboratorio normal se necesitarían dos instrumentos dedicados y sería necesario transferir la muestra de un dispositivo al otro. Con el LensAFM este no es el caso. Con su diseño excepcionalmente pequeño y su inteligente mecanismo de montaje, todo lo que necesita hacer es girar la torreta en su microscopio óptico o perfilómetro y realizar el escaneado.