Aparato de láser-flash para la determinación de la difusividad y conductividad térmicas
0.1 - 2000 W/mK, max. 300 °C | LFA 447 NanoFlash®
NETZSCH-Gerätebau
Con el nuevo Sistema de Flash de Luz LFA 447 NanoFlash®, la determinación de las propiedades termofísicas es rápida, fácil y económica.
Una lámpara de flash Xenon de alto rendimiento sustituye al láser, que se utiliza generalmente en esta bien probada técnica.
Con el cambiador de muestra integrado para de 2 a 4 muestras, es posible realizar mediciones en varias muestras automáticamente. El portador de muestras de fácil acceso permite periodos de fraguado o asentamiento breves en las preparaciones de prueba y una alta capacidad de procesamiento de muestras.
Su dispositivo de escaneo (MTX) opcional para muestras planas de hasta 50 mm x 50 mm es único para determinar las diferencias en la difusividad térmica en toda la superficie de la muestra, con una resolución espacial de 100 µm en las direcciones x e y.
