Maquina de inspección de rayos X con tomografía computarizada (CT)
225 kV | XT H 225
Nikon Metrology
El sistema versátil de XT H 225 ofrece una fuente de gran alcance de la radiografía del microfocus, un volumen grande de la inspección, alta resolución de la imagen y es listo para la reconstrucción ultrarrápida de CT. Cubren una amplia gama de usos, incluyendo la inspección de bastidores pequeños, de piezas plásticas y de mecanismos complejos así como investigar los materiales y los especímenes naturales. Ventajas dominantes: - Fuente propietaria de la radiografía del microfocus 225kV con el tamaño focal del punto de los 3µm - operación de sistema fácil y coste-de-propiedad baja - imágenes imponentes que proporcionan la gran penetración - adquisición de la imagen del alto rendimiento y proceso del volumen - automatización directa de la inspección - seguridad primero
