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Maquina de inspección de rayos X con tomografía computarizada (CT)
225kV | XT H 225 Nikon Metrology

Descripción

El versátil sistema XT H 225 ofrece una poderosa fuente de rayos X con micro-enfoque, un gran volumen de inspección, alta resolución de imagen y está listo para la reconstrucción ultrarrápida con CT. Cubren una amplia gama de aplicaciones, como la inspección de pequeñas piezas fundidas, piezas plásticas y mecanismos complejos además de examinar materiales y especimenes naturales.

Beneficios
Fuente patentada de rayos X de 225kV con micro-enfoque
Fácil operación del sistema y bajo costo de propiedad
Imágenes impresionantes que entregan información valiosa
Medición de piezas que otras fuentes de 225kV no pueden medir
Captación de imágenes y procesamiento de volúmenes de alto rendimiento
Automatización sencilla de la inspección
Seguridad ante todo

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Favoritos

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