Microscopio óptico Eclipse L200N series

de inspecciónpara la industria electrónicarecto

ECLIPSE L300ND, L300N y L200ND, L200NA de Nikon son una gama de microscopios de semiconductores ideales para la inspección de circuitos integrados (IC), pantallas planas (FPD), dispositivos electrónicos de integración a gran escala (LSI) y muchas más aplicaciones. Microscopios semiconductores avanzados para inspeccionar las últimas fabricaciones La magnífica óptica de Nikon CFI60-2 ofrece inmejorables imágenes a los dos oculares y a las cámaras de imagenología digital de Nikon con software de análisis La combinación de estas ópticas superiores con un extraordinario sistema de iluminación ofrece imágenes de excelente contraste y resolución. Nikon ECLIPSE L300N(D) y L200N(D) Estos microscopios son para una inspección óptica excepcionalmente precisa de obleas (200mm para la serie L200N y 300mm para la serie L300N), retículas y otros sustratos. Serie óptica CFI60-2 de Nikon El innovador diseño de Nikon permite el uso de técnicas de imagenología clara incluyendo alto contraste, campo claro, campo oscuro, polarización (POL), contraste de interferencia diferencia. (DIC) y contraste óptico de interferometría de doble haz. Cámaras Digital Sight de Nikon El amplio rango de cámaras Digital Sight de Nikon, pueden capturar imágenes de una muestra y llevarlas al software de procesamiento de imágenes en el paquete NIS-Elements, junto con los datos del microscopio sobre el lente del objetivo, con configuración de ampliación e intensidad de luz.