Analizador de espesor de revestimiento por fluorescencia de rayos X (XRF)
100W | X-Strata980 Oxford Instruments Analytical

X-Strata980 ESPECTROMETRO para análisis de elementos y recubrimientos robusto ROBUSTO

Combinando un tubo de alto poder de rayos X y un detector de alta resolución, el espectrómetro de fluorescencia de rayos X X-Strata980 entrega limites de detección en ppms de un digito!

- Medición de espesores y/o de composición de enchapados, recubrimientos, films, que contengan elementos desde S a U
- Análisis de hasta 25 elementos simultáneamente
- Métodos de medición acordes con las normas ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 y IEC62321
- (RoHS/ELV/WEEE)
- Medición de espesor en revestimientos Multi-capas
- Identificación de aleaciones y análisis químicos
- Solución para el análisis en enchapados
- Ensayo para determinar Quilates de oro
- Análisis simultaneo de espesor y composición
- Software de Mapeo
- Cámara de muestreo gigante
- Excitación de rayos X