Platina de posicionamiento Z PZ 300 AP

piezoeléctrica1 ejepara microscopio

La precisión y velocidad de posicionamiento de muestras, es un criterio crucial en el campo de la microscopía de alta resolución. La nueva platina de elevación en eje z, PZ 300 AP de piezosystem jena ha sido desarrollado para cumplir con estos requisitos. La platina está basado en un concepto de accionamiento monolítico por medio de actuadores piezoeléctricosque ofrecen un posicionamiento 100% libre de juego. El piezoeléctrico también además características excepcionales en términos de posicionamiento. Con un total de más de 300 micras de carrera, pueden lograse posiciones con una resolución de 5 nm en cuestión de milisegundos. Estas caraterísticas amplian el gamo de aplicaciones para captar imágenes y en procesos D-Imaging, una mejora en la calidad de señal. El enfoque rápido y preciso representa una mejora significativa en la calidad de la imagen, especialmente para procesos y mediciones "in vivo". La apertura puede ser provista opcionalmente con un adaptador especial para microscopio. Para poder albergar placas de Petri multiwell u otro tipo de accesorios estandards. Especialmente para las escaneos rápidos, es aconsejable montar el piezoeléctrico usando el bastidor de soporte específicado para el microscopio disponible fijandolo a la platina XY. Además de superar dificultades debidas a propiedades del material como histeresis y deslizamiento. El PZ 300 AP cuenta con sensores capacitivos que garantizan un posicionamiento exacto y permite abordar un punto definido con una repetibilidad en el rángo nanométrico. Para más información: http://www.piezosystem.de/anwendungen/mikroskopie/