Microscopio Raman SPM/AFM

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Puede combinar la potencia de inVia con los microscopios de sonda de barrido (SPM y AFM) para investigar la composición, la estructura y las propiedades de los materiales a escala nanométrica. Elija el mejor sistema El inVia es increíblemente flexible; Renishaw puede acoplarlo directamente a una amplia gama de AFMs y SPMs de proveedores como: Bruker Nano Surfaces Nanonics NT-MDT JPK Park Nanosurf Elija el mejor SPM/AFM para sus necesidades. TERS: dispersión Raman mejorada por la punta Algunos sistemas inVia-AFM pueden realizar la dispersión Raman mejorada con la punta (TERS). Esta interesante técnica utiliza una punta plasmónica afilada para obtener información química a escala nanométrica. El mapeo TERS complementa a StreamLine™ y StreamHR™, dándole la flexibilidad de estudiar sus muestras a la resolución que desee. Máxima eficacia El brazo de acoplamiento flexible especialmente diseñado por Renishaw puede utilizarse para integrar ópticamente inVia a los SPM/AFM. Utiliza espejos para dirigir la luz, proporcionando una mayor eficiencia que el acoplamiento de fibra óptica. Puede obtener sus espectros más rápidamente y con una mayor relación señal/ruido. La alineación es fácil. Todos los sistemas combinados ofrecen un vídeo incorporado con iluminación de luz blanca para que pueda ver claramente tanto la punta de la sonda como el punto del láser Raman juntos, algo fundamental para el trabajo TERS. Mismo lugar, mismo tiempo Puede confiar en sus datos. Puede adquirir simultáneamente datos Raman y AFM desde el mismo punto de la muestra sin tener que moverla. Esto asegura que sus datos son consistentes, incluso si su muestra está cambiando con el tiempo. Un sistema combinado El análisis es co-localizado; no tiene que mover su muestra entre sistemas y luego buscar laboriosamente para encontrar el mismo punto de interés.