SEM-Raman le ofrece una completa caracterización de muestras in situ en un único sistema. Redefina la comodidad, la eficiencia y la productividad combinando estas dos tecnologías.
La interfaz del analizador estructural y químico (SCA) de Renishaw lleva las capacidades de medición puntual y mapeo de los microscopios Raman inVia™ a los microscopios electrónicos de barrido (SEM).
Raman + SEM
El microscopio inVia y la interfaz SCA proporcionan una técnica analítica en el SEM que complementa la espectroscopia Raman basada en el microscopio de luz y supera las limitaciones de la espectroscopia de rayos X de energía dispersiva (EDS), la técnica analítica tradicional en el SEM. Con el sistema SEM-Raman de Renishaw, se beneficiará de un análisis morfológico, elemental, químico, físico y electrónico conjunto.
Utilice el SEM para generar imágenes de alta resolución de su muestra y realizar análisis elementales. Añada la potencia de Raman para obtener información química e imágenes. Identifique materiales y no metales, incluso cuando tengan la misma estequiometría.
El SCA e inVia son totalmente compatibles no sólo con el Raman, sino también con las espectroscopias de fotoluminiscencia (PL) y catodoluminiscencia (CL).
Análisis de rayos X de depósitos aluviales
Análisis de rayos X de depósitos aluviales
Un sistema combinado para el análisis conjunto
Con un sistema combinado, usted ahorra un tiempo valioso. No tiene que mover sus muestras entre dos instrumentos y arriesgarse a analizar la región de muestra equivocada.
Tanto el microscopio inVia como el SEM pueden funcionar como sistemas independientes, al mismo tiempo, sin comprometer el rendimiento de ninguno de ellos. Tiene un sistema Raman, un sistema SEM y un sistema combinado Raman-SEM.
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