Microscopio de sonda de barrido VT SPM

de laboratorioin-situde mesa

25 K 1500 K Verdadero pA STM Espectroscopia dI/dV mejorada Deflexión del haz AFM Sensor QPlus AFM Evaporación in situ El Omicron VT SPM es un microscopio bien establecido en muchos laboratorios de investigación para microscopía con sonda de barrido. Ganó el premio prominente de I&D en 1996. Hasta la fecha, se han entregado e instalado con éxito más de 500 instrumentos en todo el mundo. El volumen de resultados de investigación y publicaciones es una prueba concluyente del rendimiento, calidad y versatilidad del diseño del SPM de temperatura variable. El SPM de temperatura variable utiliza la última tecnología de preamplificadores para una verdadera microscopía y espectroscopía de barrido sub-pA. El funcionamiento estable a baja corriente es importante para la investigación de superficies sensibles o de baja conductividad. Para la espectroscopia de modulación, una compensación electrónica reduce la influencia de las corrientes parasitarias. Esto ahorra tiempo de adquisición y mejora los resultados. La tecnología AFM de la SPM de temperatura variable se basa en más de 20 años de experiencia en Microscopía de Fuerza Atómica en UHV. Se ha desarrollado y mejorado continuamente. El clásico AFM de desvío de haz para AFM de contacto y sin contacto ofrece la flexibilidad para muchos modos de funcionamiento y diferentes tipos de voladizos. Por ejemplo, AFM de alta resolución, Microscopía de Fuerza de Fricción, Microscopía de Fuerza Electrostática (EFM), Microscopía de Sonda de Barrido Kelvin (SKPM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM) están disponibles.