Microscopio de fuerza atómica (AFM)
AFM, LFM
Skyray Instrument
Alto rendimiento
Atómico-escalar de la resolución
Tamaño de muestra grande
Con un DSP adentro para el gran funcionamiento
Sistema operativo en tiempo real encajado
Conexión rápida de Ethernet con la computadora
De múltiples funciones
Microscopio atómico de la fuerza (AFM)
Microscopio de la fuerza lateral (LFM)
Análisis de la fuerza: IV curva, curva de I-Z, curva de la fuerza
Imagen en línea del tiempo real 3D para una mejor observación
Señales de varios canales para más detalles de la muestra
Remontar-Retrazar la exploración, exploración Detrás-Delantera
Multi-Análisis: Granulosidad y aspereza
Carga-hacia fuera de los datos para el análisis adicional
Operación fácil
Ayunar automáticamente inclinar-enganchando
Cambio simple el sostenedor de la extremidad al interruptor entre el STM y el AFM
Control numérico completo, reconocimiento auto del estado de sistema
Movimiento basado en programas de la muestra
Función de la Nano-Película: Colección, almacenaje y respuesta de datos continuos
Diseño modularizado para la conveniencia del mantenimiento y de la mejora del futuro
Especificaciones
Microscopio atómico de la fuerza de las funciones (AFM)
Microscopio de la fuerza lateral (LFM)
Resolución AFM: 0.26nm lateral, vertical 0.1nm
Alcance X-Y de la exploración de los parámetros técnicos: ~10 micrómetros
Distancia de Z: ~2 micrómetros
Pixeles de la imagen: 128X128, 256X256, 512X512, 1024X1024
Ángulo de la exploración: 0~360 grados
Tarifa de exploración: 0.1~100Hz
