Microscopio de sonda de barrido (SPM)
OS-AA Skyray Instrument

Introducciones
El sistema de OS-AA SPM se sabe para su multifuncionalidad y franqueza completa. El sistema de OS-AA es no sólo una plataforma para los experimentos poco convencionales pero también para otros progresos que una facilidad de detección rutinaria.

Características

Milti-función: STM, AFM, LFM, MFM, EFM, modo que entra en contacto con, golpeando ligeramente, fase
Control numérico completo incluido 16bit ADC/DAC de la proyección de imagen
Comunicación de alta velocidad basada en el protocolo del TCP/IP para doble-CPU-DOBLE-OS y
de intercambio de datos grande
Canal de señal de la entrada-salida preservado para la extensión de sistema adicional
Interfaz abierto del external estándar para los segundos progresos
IV curva y Fuerza-Curva
Nano-Proceso
Nano-manipulación con tecnología de las Estupendo-Multimedias
Diseñado para Windows Vista/XP/NT/2000/9X
Hardcode y código dinámico ambos aplicados al software fuera de uso
Brillo y Multi-Análisis restaurado auto del contraste: Granulosidad y aspereza

Especificaciones
Resolución: AFM: 0.26nm lateral, vertical 0.1nm; STM: 0.13nm lateral, vertical 0.01nm
Sensibilidad actual: ≤ 10pA
Sensibilidad de la fuerza: ≤ 1nN
Colocación de exactitud: ≤ 0.5nm
Los canales de salida preservaron: 6ch (1ch ± 10V, DAC de 16 bits)
Los canales de entrada preservaron: 16ch (100k/16-bit ADC con el filtro de paso bajo y el amplificador)
Los canales de DI/DO preservaron: 8ch los DI, 8ch HACEN