Microscopio de sonda de barrido (SPM)
AFM, MFM, EFM | AA5000
Skyray Instrument
El microscopio de la punta de prueba de la exploración AA5000 es el modelo innovado. La unidad tiene una cobertura total de SPM TÉCNICA-STM, AFM, LFM AFM conductor, MFM, EFM, control del medio ambiente SPM y Nano-Proceso... Y la unidad se diseña para proporcionar imágenes de la escala atómica a 100 micrómetros. Con un procesador de señal numérica (DSP) TMS320C642 dentro de los sistemas, AA5000 puede manejar tareas de múltiples funciones complicadas eficientemente. Un sistema operativo en tiempo real de SPM/DNA se encaja en sistema de AA5000 SPM.
Especificaciones
Funciona el microscopio atómico de la fuerza (AFM) que tiene cobertura total del modo que entra en contacto con,
Modo que golpea ligeramente, proyección de imagen de la fase y modo de elevación;
Microscopio de la fuerza lateral (LFM);
Microscopio de exploración el hacer un túnel (STM);
AFM conductor, SPM en el líquido, control del medio ambiente SPM;
Nano-Proceso del sistema incluyendo modo de exploración del modo y del vector de la litografía;
Resolución AFM: 0.26nm lateral, vertical 0.1nm;
STM: 0.13nm lateral, vertical 0.01nm;
Parámetros técnicos
Sensibilidad actual: inferior o igual 10pA;
Sensibilidad de la fuerza: inferior o igual 5pN;
Pixeles de la imagen: 128X128, 256X256, 512X512, 1024X1024, 2048X2048;
Ángulo de la exploración: 0-360 grado ajustable;
Tarifa de exploración: 0.1-100Hz ajustable;
Preestablecimiento de la corriente el hacer un túnel: 0.001-10nA predisponen: -10-+10V;
Sensibilidad de temperatura: 0.1Celsius, sensibilidad de la humedad: 0.5%RH;
Tamaño de muestra: Hasta 50mmx50m m, 30m m gruesos;
Contrato: Contrato auto con el recorrido de 30m m y la precisión de 50nm;
Software de control en línea y software de tratamiento de la imagen fuera de línea para Windows
Vista/XP/2000/9x;
