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... El JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300), equipado con un cañón de emisión de campo frío, un filtro de energía Omega en columna, una etapa de enfriamiento de nitrógeno líquido de entrada lateral y un sistema de intercambio de muestras automatizado, ...
Jeol
Resolución espacial: 0,08 nm - 0,23 nm
... que facilita la observación de materiales con elementos ligeros, incluso con voltajes de aceleración bajos. La sala del microscopio está separada de la sala de operaciones para responder a una operación remota. Además, ...
Jeol
Resolución espacial: 0,19, 0,23 nm
... para la microscopía electrónica analítica. También cuenta con una excelente estabilidad mecánica y eléctrica, que refleja la experiencia en ingeniería de JEOL acumulada a lo largo de los años. Sistema de condensador ...
Jeol
Aumento: 2.000 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 0,1 nm - 0,31 nm
... información sobre el estado químico o elemental de una muestra. También se dispone de espectroscopia para el análisis elemental y el análisis químico de muestras. - Filtro de energía en columna (filtro ...
Jeol
Aumento: 10 unit - 1.500.000 unit
Resolución espacial: 0,2, 0,14 nm
... estas necesidades, un nuevo microscopio electrónico de 120 kV "JEM-1400Flash" está equipado con una cámara sCMOS de alta sensibilidad, un sistema de montaje de área ultra amplia y una función de enlace de imágenes OM ...
Jeol
Aumento: 3.500 unit - 100.000 unit
... El JSM-7900F es el nuevo FE-SEM insignia de JEOL que combina imágenes de altísima resolución, estabilidad mejorada y excepcional facilidad de uso para cualquier nivel de operador en entornos polivalentes. Neo Engine（Nuevo motor óptico ...
Jeol
Aumento: 10 unit - 2.740.000 unit
Resolución espacial: 0,9, 1,3 nm
... SEM" para la integración de EDS La nueva interfaz gráfica de usuario "SEM Center" integra completamente las imágenes SEM y el análisis EDS. Esta potente función proporciona una operatividad de última ...
Jeol
Aumento: 25 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 1, 1,3, 3 nm
... El JSM-7610F es un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo Schottky de ultra alta resolución que cuenta con lentes de objetivo semi-in-lens. La óptica de alta potencia puede proporcionar un alto rendimiento ...
Jeol
... resultados de los análisis elementales, SMILE VIEW（TM） Lab para la generación de informes sin fisuras de los resultados de observación y/o análisis, etc., proporcionan un análisis rápido ...
Jeol
... se pueden realizar análisis de materiales extraños y controles de calidad más rápidos y detallados. Características Observación y análisis rápidos sin tratamiento de la muestra con el SEM ...
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