Microscopios electrónicos de barrido Jeol

Aumento: 3.500 unit - 100.000 unit

... El JSM-7900F es el nuevo FE-SEM insignia de JEOL que combina imágenes de altísima resolución, estabilidad mejorada y excepcional facilidad de uso para cualquier nivel de operador en entornos polivalentes. Neo Engine（Nuevo motor óptico ...

... JSM-IT200 es un SEM fácil de usar centrado en el rendimiento de costes de las altas funcionalidades de JSM-IT500 (modelo de gama superior) de InTouchScopeTM, con un rendimiento significativamente mayor. Specimen Exchange ...

... Los microscopios electrónicos de barrido de sobremesa se utilizan en una amplia gama de campos, como la electricidad, la electrónica, la automoción, la maquinaria, la ...

... con el microscopio electrónico de barrido para observar las estructuras finas con mayor aumento y resolución. Ahora es posible comparar y verificar sin problemas las imágenes del microscopio ...

Aumento: 20 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 1,2, 4, 1,6 nm

... una función de análisis tridimensional que captura automáticamente imágenes de SEM en determinados intervalos durante el procesamiento de la sección transversal Observación SEM de alta resolución Una ...