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El MDX1000 es un analizador dispersivo de la fluorescencia de la radiografía de la longitud de onda con varios elementos simultánea (WDXRF) de gran alcance para el rapid, control de proceso confiable. Es robusto construido y compacto y está igualmente en el país en un laboratorio o en el sitio de la producción.
El MDX1000 se ajusta a muchas especificaciones internacionales, e.g. especificación de ASTM D2622 para la determinación rápida del sulfuro en aceite. Para el análisis de los líquidos una ventana secundaria reemplazable de la seguridad del cliente único asegura la protección del instrumento en caso de salida de la muestra, llevando a la alta confiabilidad con costes corrientes bajos.
Para el análisis del cemento, de los minerales etc las muestras bajo la forma de polvos presionados se cargan simplemente en las células de muestra de los instrumentos de Oxford, se colocan en el MDX1000 y se miden. Los "resultados vivos se ponen al día" - las concentraciones con varios elementos simultáneas, se exhiben después de apenas cinco segundos de la medida permitiendo que un gravamen rápido del proceso de producción sea hecho.
El MDX1000 utiliza un tubo de radiografía probado campo que da años de operación sin problemas cuál combinado con el uso de los monocromadores fijos del elemento (es decir ningunas piezas móviles) da a alta confiabilidad de largo plazo. Es único y el software fácil de utilizar permite la operación por el laboratorio y el personal de la producción que dan a total 24/7 confianza.
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Serie de la RADIOGRAFÍA XDLM y de XDAL de FISCHERSCOPE
Los espectrómetros de XDLM con el tubo micro del foco y el tubo contrario proporcional se adaptan ideal para la inspección de las piezas donde se miden las pequeñas estructuras. Los usos típicos son medidas en PC-tableros, contactos del enchufe y componentes electrónicos. Los espectrómetros de XDLM se equipan de cuatro aberturas cambiables y de un XY programable (Z) etapa de medición. Esto los hace adecuados ideal para las piezas producidas en masa prueba.
Los espectrómetros de XDAL con los detectores del PIN del silicio proveen de resultados del análisis y de lecturas confiables del grueso de capa incluso la pequeña concentración y capas muy finas. Con su XY rápido y alto exacto (Z) etapa de medición, se adaptan ideal para las medidas automatizadas de la muestra.
Los espectrómetros de XDAL y de XDLM tienen una estabilidad de largo plazo excelente, que se refleja en un esfuerzo perceptiblemente reducido de la calibración, entre otras cosas.
Usando el método fundamental del parámetro de FISCHER, los sistemas de capa así como muestras sólidas y líquidas pueden ser estándar-libres analizado.
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La más nueva generación de los espectrómetros probados de FISCHER XDL® está disponible ahora. Substituyen los espectrómetros establecidos de la RADIOGRAFÍA XDL®-B de FISCHERSCOPE®.
Los instrumentos de FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL® son espectrómetros de radiografía energía-dispersivos universal aplicables. Representan el paso siguiente en el desarrollo de la serie modelo probada de la RADIOGRAFÍA XDL® de FISCHERSCOPE. Como sus precursores, están particularmente bien adaptados para las medidas del grueso y el análisis no destructivos de capas finas, para las medidas en piezas producidas en serie y los PC-tableros así como para el análisis de la solución.
Una tarifa del alto registro es alcanzada usando un tubo contrario proporcional, que permite medidas exactas. Usando el método fundamental del parámetro de Fischer, los sistemas de capa así como muestras sólidas y líquidas pueden ser estándar-libres analizado. Es posible detectar hasta 24 elementos en la gama de la clorina (17) al uranio (92) simultáneamente.
Los espectrómetros de radiografía de XDL® tienen una estabilidad de largo plazo excelente, que entre otras cosas se refleja en un esfuerzo perceptiblemente reducido de la calibración.
Los instrumentos de la serie de XDL® están especialmente bien adaptados para las medidas en garantía de calidad, la inspección de la recepción y la supervisión de la producción.
Las áreas típicas del uso son:
Medida de piezas producidas en serie electro-plated
Inspección de capas finas, e.g., el chromium-plating decorativo
Análisis de capas funcionales en electrónica y las industrias del semiconductor
Medidas automatizadas, e.g., en PC-tableros
Análisis de la solución en el electrochapado
Los nuevos instrumentos están disponibles ahora en todas las oficinas de FISCHER.
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Phoenix II
Analizador bajo del benchtop del sulfuro ED-XRF
La PHOENIX II es un analizador polarizado del benchtop de ED-XRF que ofrece la simplicidad extrema de la operación en un diseño compacto barato. Es ideal para el análisis del sulfuro en el laboratorio o en el campo.
Una pequeña huella hace el ajuste de PHOENIX II para los ambientes rugosos: Los laboratorios móviles, los sitios de la producción o apenas un laboratorio con poco espacio se fueron.
El sistema autónomo con una PC a bordo hace uso del sistema operativo de Windows junto con una exhibición simple, intuitiva de la pantalla táctil, haciendo análisis fácil para los operadores no técnicos y las ofertas toda la información para los usuarios expertos.
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El FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV®-SDD es un espectrómetro de radiografía dispersivo de la energía universal aplicable. Está particularmente bien adaptado para el análisis no destructivo de capas muy finas, para el pequeño análisis de rastro de las concentraciones y para las medidas automatizadas.
Las áreas típicas del uso son:
- Análisis de las capas finas o muy finas, capas e.g., del oro/del paladio de ≤ 0.1 μ m
- Análisis de rastro en tableros de PC según los requisitos de RoHS y de WEEE
- Análisis del oro y de los metales preciosos
- Medida de capas funcionales en electrónica y las industrias del semiconductor
- Determinación de los sistemas complejos de la multi-capa
- Medidas automatizadas, e.g., en control de calidad
Para crear las condiciones ideales de la excitación para cada medida, el XDV-SDD ofrece eléctricamente aberturas cambiables y los filtros primarios. El detector moderno de la deriva del silicio alcanza alta exactitud del análisis y buena sensibilidad de la detección. Debido a aberturas grandes (colimadores) y a un procesador muy rápido del pulso, se adapta ideal para capturar tarifas del alto registro.
El espectrómetro de radiografía de XDV-SDD tiene una estabilidad de largo plazo excelente, que se refleja en un esfuerzo perceptiblemente reducido de la calibración, entre otras cosas. Usando el método fundamental del parámetro, los sistemas de capa así como muestras sólidas y líquidas pueden ser estándar-libres analizado. Es posible detectar hasta 24 elementos en una gama del aluminio (13) al uranio (92) simultáneamente.
Con su X/Y-stage rápido, programable, es el instrumento de medida apropiado para las medidas automatizadas de la muestra.
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Serie de la RADIOGRAFÍA XUL de FISCHERSCOPE
Los modelos de la serie de XUL son espectrómetros compactos de la fluorescencia de la radiografía para las medidas del grueso de capa y los análisis materiales. Están bien adaptados para que las industrias de electrochapado midan pequeñas partes con diversas formas, tales como tornillos, pernos o tuercas, para los contactos y otros componentes electrónicos. También el contenido del metal de baños de galvanoplastia se puede analizar rápidamente y fácilmente.
El modelo de XULM con su tubo de radiografía micro del foco se diseña para las medidas en piezas, contactos del enchufe y alambres muy pequeños. Está particularmente bien adaptado para las industrias de la joyería y del reloj pero también para las medidas manuales en PC-tableros.
La fuente de la radiografía y el detector están situados por debajo el compartimiento de la medida. Esto permite la colocación simple y exacta de los especímenes. Una cámara de vídeo de alta resolución integrada apoya la colocación exacta.
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Poderoso Espectrómetro EDXRF
- Minerales y minería
- Industria petroquímica, combustibles, aceites
- Tratamientos de Madera
- Cemento
- Alimentos y cosméticos
- Plásticos y polímeros
- Educación
El poderoso EDXRF Supreme8000 cumple el exigente requisito de un equipo de espectrometría con una mínima o nula preparación de muestras que puede ser usado por personal incluso ajeno al laboratorio.
El excelente SDD (Silicon Drift Detector) de Oxford y una tecnología de tubo de rayos X, garantiza un análisis preciso multi-elemento a concentraciones desde un alto porcentaje a niveles ppm de detección, cubriendo elementos como Na11 a U92 en la tabla periódica.
El equipo puede abarcar un amplio rango de muestras incluyendo:
- Sólidos
- Líquidos
- Polvos
- Pastas
- Films
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Análisis usando radiografías
El espectrómetro dispersivo de la fluorescencia de la radiografía de la energía (EDX) es el instrumento para realizar análisis cualitativo y cuantitativo del elemento en la gama de 6C/11Na a 92U y es las herramientas ideales para los usos no destructivos. EDX se utiliza en muchas diversas áreas de aplicaciones en las industrias químicas, electrónicas y alimentarias así como refinerías. Puede ser utilizado con las muestras del sólido, del polvo y del líquido. Esto es alcanzada aplicando la radiografía a la muestra y después analizando la radiografía fluorescente característica re-emitida del elemento. Las funciones de la seguridad previenen con eficacia la exposición a las radiografías siempre.
Dirección fácil y límites de detección mejorados
Con un empuje simple de un botón, los elementos que se extienden del sodio al uranio se pueden analizar rápidamente y fácilmente. Además, el software permite a condiciones de medición ser adaptado a la característica de la muestra. Para el análisis exacto de elementos más ligeros los sistemas se pueden gestionar opcionalmente bajo vacío o bajo atmósfera del helio. El montaje incorporado del cinco-filtro (circonio, aluminio, titanio, níquel y molibdeno) reduce con eficacia interferencias y aumenta la calidad de señal. Esta manera, los límites se mejora marcado para la detección e.g. de plomo, de cadmio, de clorina o de cromo.
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El X-Supreme8000 es un analizador dispersivo de la fluorescencia de la radiografía de la energía (EDXRF) del benchtop que mide elementos aditivos, e incluye un carrusel de la muestra de 10 posiciones para el funcionamiento sin atención, y una PC integrada para el almacenaje de resultados, del etc.
El X-Supreme8000 mide del sulfuro ultrabajo (ULS), con un límite de detección de 1 PPM hasta el 5%. Así como el sulfuro también mide el níquel, el vanadio, y el hierro en aceite combustible, plomo en la gasolina etc.
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El Lab-X3500 es un robusto y confiable espectrómetro de mesa XRF ideal para cualquier sitio de trabajo o cualquier nivel de operación.
Para la industria usar el Lab-X3500 es una excelente decisión por su relación costo beneficio.
Las industrias que implementan el equipo para control de calidad son:
Petroquímica, Minerales, Cemento, Cerámicas, Cosméticos, Papel, Fabricantes de elementos de aseo como jabón, químicos generales midiendo un rango de elementos desde Mg a U
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Análisis en línea para la industria fotovoltaica
Los instrumentos de la RADIOGRAFÍA 5000 de FISCHERSCOPE® son los espectrómetros dispersivos de la fluorescencia de la radiografía de la energía innovadora (EDXRF) para los usos en línea en sitios de la producción industrial. Satisfacen ISO 3497 del estruendo y ASTM B 568.
Estos instrumentos se diseñan especialmente para el análisis y la medida no destructivos continuos de capas delgadas y de sistemas de la capa en procesos de producción. Para las demandas industriales y la operación continua sin necesidad de mantenimiento, el diseño es robusto y sin ningunas piezas móviles.
La RADIOGRAFÍA 5000 de FISCHERSCOPE® mide y analiza capas y sistemas de la capa
- en la industria voltáica de la foto, es decir CIGS, CIS, CdTe
- hojas y correas
- aleaciones y capas
- bajo temperatura ambiente o en superficies muy calientes (hasta F) 500°C/932
- en la operación continua y bajo condiciones industriales
La RADIOGRAFÍA 5000 de FISCHERSCOPE® mide en un vacío o un aire ambiente. Con sus detectores de semiconductor de gran alcance, puede determinar elementos en la gama de sodio al uranio.
Para la integración fácil en las líneas de montaje vienen con un reborde de montaje estandardizado. Las varias versiones modulares de la estructura están disponibles.
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X-Strata980 es una solución rentable para el proceso y el control de calidad de células fotovoltaicas thin-film. Es un alto rendimiento, micro-punto, espectrómetro dispersivo de la fluorescencia de la radiografía de la energía de la banco-tapa para la determinación del grueso de capa y del análisis de múltiples capas de la composición en pequeñas áreas del análisis. Se ajusta a ISO 3497 de los métodos de la prueba, a ASTM B568 y al estruendo 50987.
El sistema tiene como su fuente de excitación un field-proven, 100 vatios, tubo de radiografía del micro-foco de los instrumentos de Oxford, y se cabe con un detector de alto rendimiento, peltier-refrescado del Si-PIN-diodo. Esta combinación proporciona la precisión excepcional y límites de detección bajos, incluso en los tiempos cortos de la medida. Los resultados del grueso y de la composición de capa se obtienen dentro de segundos.
No hay preparación de la muestra requerida. Es simplemente una cuestión de colocar la muestra en el compartimiento grande del análisis de los X-Estratos, utiliza el laser del foco para alcanzar la distancia focal correcta, y chasca encendido "va" botón para comenzar la medida.
Permite el análisis rápido del grueso de la capa y la composición de las células y puede ser parte de un proceso de decisión del paso/del fall, asegurándose de que las piezas producidas resuelven la especificación, de tal modo proporcionando la eficacia requerida de la conversión de la energía solar en electricidad.
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Espectrómetro de ARL OPTIM'X XRF
La flexibilidad, la simplicidad, la confiabilidad, y la exactitud son rasgos del ARL OPTIM'X: el acuerdo, optimizado para los usos específicos, sus características es:
* Plataforma única de WDXRF con capacidades secuenciales y/o simultáneas
* Análisis rápido de sólidos, de líquidos y de polvos flojos con la resolución espectral superior
* Gracias elementales más amplios de la cobertura de XRF al goniómetro innovador del instrumento - el SmartGonio - que se puede ahora configurar para cubrir todos los elementos del flúor (f) al uranio (u) en modo secuencial
* Ninguna refrigeración por agua o suministro de gas (dependiendo de la configuración) requirió
* La óptica de cerca juntada para la intensidad creciente (geometría más alto que convencional del 50%)
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La sensibilidad, la precisión y la velocidad de un instrumento analítico son de importancia particular para los usos industriales del control de proceso. Los patrones ya a este respecto fijados del índice de inteligencia de SPECTRO. El nuevo índice de inteligencia II de SPECTRO mantiene este curso con otras tecnologías mejoradas y una alineación consiguiente hacia simplicidad y la formalidad de la operación.
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El SPECTRO XEPOS se puede entregar con los paquetes de la aplicación instalados previamente. Los paquetes de la aplicación son una combinación de hardware y de métodos analíticos; instalado en la fábrica y templado individualmente.
La gama de usos incluye, entre otros: El análisis de la basura, suelos, lodo de aguas residuales, aditivos en aceite, cemento, escoria, materiales refractarios y componentes electrónicos y partes de acuerdo con RoHS, haciendo el SPECTRO XEPOS un multi-talento verdadero.
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El espectrómetro de la fluorescencia de la radiografía de los instrumentos EDX3200S de Skyray fue dirigido y configurado especialmente conformarse al método de la prueba de ASTM D4294 para el análisis del sulfuro en petróleos crudos. Este instrumento es compacto y extremadamente exacto dándole niveles de la exactitud de +/-5PPM.
Especificaciones técnicas de EDX3200S XRF:
Elementos mensurables: Fosforado (P) - uranio (U)
Gama del análisis: 5ppm - 100%
Tipo de la prueba: Petróleo, petróleo crudo, líquidos
Función: Anlysis elemental de productos petroquímicos
Tiempo de la medida: 60Seconds - 100Seconds
Voltaje de funcionamiento: CA 110V/220V
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SPECTRO MIDEX es un sistema de Benchtop XRF que proporciona la determinación rápida, no destructiva de la composición elemental para la joyería y las aleaciones dentales. El analizador está también bien adaptado para los usos de la ciencia forense. Utiliza tecnología avanzada de XRF y técnicas propietarias de la colimación de la viga para asegurar el más fácil, la mayoría de los resultados exactos de la medida posibles dentro de un tiempo de reacción típico 2-3-minute.
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Característica:
WDX200 es un espectrómetro dispersivo de la fluorescencia de la radiografía de la longitud de onda ampliamente utilizado en control de calidad de la producción del cemento, del acero, y de la mina. Es opcional para la prueba 10 elementos de Na-U, él se dice una herramienta de prueba del cemento desde el funcionamiento excelente para los elementos ligeros como Na, Al, K, Ca, magnesio, FE, Si, P.
Especificación:
El vacío más alto: < PA 5.
Estabilidad: ¡¾ 0.003 KPa
Voltaje y estabilidad actual del tubo: mejorar que el 0.05% in12-hour
Elementos mensurables: 10 elementos arbitrarios del Na al U.
Fuente de alimentación de AC110/220V: la CA 1KVA purificó la fuente de alimentación estabilizada del voltaje
Exactitud del análisis: (24 horas, el por ciento) £¥ del ¡Â0.05.
Probar la época de la sola muestra: El £ 5 del ¡Â3 minuta £¨including la época de cambiar la muestra y de bombear el vacuum£©
Exactitud del control de la temperatura del compartimiento de la temperatura constante: ¾ 0.1¨¬C. del ¡del valor de ajuste.
Configuración
Tubo de radiografía: 200W enrarecen sean tubo de radiografía de la ventana del extremo hecho por la compañía de Varian. Ánodo el derecho (opcional). 400W (opcional).
Fuente de alto voltaje: 200W (50KV4mA)
Detector: detector proporcional del gas más detector proporcional sellado; 10 trayectorias de analizador de altura de pulso independiente de 1024 canales
Sistema del vacío: la estación de bombeo independiente es fácil para el mantenimiento.
Software de análisis:
Coeficiente empírico y método teórico del uno-coeficiente
Protocolo del TCP/IP (el s basado zócalo C) y el protocolo del OPC (servidor del OPC) permiten la distribución de datos con el sistema de DCS o de QCS. Protocolo de comunicación serial RS-232
técnica de la detección del Todo-espectro, medidas generales del autoexamen
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Características:
EDX 3600B es el EDX más de gran alcance XRF para los metales de la prueba tales como metal precioso (Au, AG pinta, paladio, etc), acero, aleación, explotación minera y análisis del cemento, y también para el análisis del grueso de la galjanoplastia y el análisis completo del elemento y la prueba de RoHS.
El espectrómetro de la fluorescencia de la radiografía de EDX3600b (XRF) de Skyray se equipa de un compartimiento sellado del vacío que presurice a la estabilidad extrema cuando la prueba se prepara para los resultados alto exactos. Esta unidad es capaz de la prueba para los varios tipos de usos tales como metales preciosos en suelo, aleaciones y líquidos, prueba de ROHS/WEEE para los elementos peligrosos tales como las medidas de grueso del plomo (Pb), de la galjanoplastia, y análisis de la identificación de la aleación.
Especificación:
Gama de los metales: Entre el sodio (Na) - uranio (u)
Gama contenta: PPM - 100%
Sustancia de la medida: Sólidos, polvos, líquidos
Prueba del tiempo: 60 segundos - 300 segundos
Voltaje de funcionamiento: CA 110/220 V
Generador del voltaje: 5-50 kilovoltios
Higrometría: ≤ 70％
Consumo de energía: 0.2kwh
Configuración:
Tamaño del compartimiento: 160mmX160mmX180m m
Detector: Detector de la deriva del silicio
Blanco del tubo de radiografía: Tungsteno
Características de la seguridad: Modo triple de la protección de la seguridad
Cámara del CCD: 1.4 millones de cámaras del CCD de los pixeles
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Características:
EDX 2800 se diseña especialmente para la detección de la sustancia de RoHS (Cd, Pb, Cr, hectogramo, Br) y los elementos completos análisis, análisis de la joyería y medida del grueso de la galjanoplastia.
Especificaciones:
Gama contenta de la ración: PPM---99.99%
Tiempo de la medida: 60---300 segundos
Exactitud: 20ppm para la prueba del directorio de RoHS. (para las muestras cuyo contenido es más los de 96%)
Revolución de la energía: 165+-5eV
Sustancia de la medida: sólido, polvo y líquido
Gama de prueba: 75 elementos del sulfuro al uranio
Detectar la fuente: detector de semiconductor de la Electro-refrigeración SI-PIN
Fuente de alimentación: CA 110/220V+-5V
Higrometría: ¡Ü 70£¥
Peso: 130lb
Configuración:
Solo compartimiento de la muestra: los 24*16*4In
El reforzador de relación señal/ruído (SNE) ofrece la garantía de gran alcance para la exactitud de la medida
el detector de semiconductor de la Electro-refrigeración SI-PIN es más conveniente que la refrigeración del nitrógeno líquido.
Cambiar los colimadores y los filtros automáticamente para diversas muestras
Fuente de tensión: Voltaje de tubo (máximo): 50kV; Corriente del tubo (máxima): 1mA
Tubo de radiografía: Material de blanco del tungsteno
Sistema óptico de la radiografía: Sistema óptico inferior
Cámara del CCD: 1.4 millones de cámaras del CCD de los pixeles
Software aplicable: Software de análisis de RoHS
(aplicable sistemas de la operación del Windows 2000 y de Windows Xp)
Colimador: ¦µ8, ¦µ6, ¦µ4, ¦µ3, ¦µ2, ¦µ1, ¦µ0.5, ¦µ0.1mm
Seguridad
El instrumento tiene cubiertas dobles del protector y la cubierta externa tiene hoja de plomo que pueda evitar que la radiografía se escape
La cubierta del protector del instrumento tiene dispositivos de seguridad con el alto voltaje del X-tubo. Cuando la cubierta está abierta, el tubo de radiografía se cierra automáticamente para evitar que el rayo de X se escape.
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Con el tubo de guía único de la radiografía los sistemas de la tapa XGT-5000 del banco permiten el acceso conveniente al análisis de la fluorescencia de la radiografía con la alta resolución espacial – a partir de 1.2 milímetros abajo al µm 10. No hay preparación de la muestra o – requeridos vacío; el objeto se pone simplemente en el compartimiento de la muestra y se analiza en la presión atmosférica normal. Movimiento de la muestra de controles del software completamente integrado, opciones de adquisición y análisis de datos (análisis cualitativo y cuantitativo, y generación compuesta incluyendo de la imagen). De cuando una muestra se pone en el compartimiento, apenas algunos segundos son necesarios hasta que se comience una adquisición, ayudado por “ intuitivo; punto y click” selección de la posición del análisis.
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Espectrómetro dispersivo de la fluorescencia de la radiografía de la energía libre del nitrógeno líquido:
- Para la investigación de la conformidad de RoHS
- Detector de semiconductor libre de alta resolución del Si del nitrógeno líquido (Li)
- Para el análisis regular de la fluorescencia de la radiografía de metales, de rocas, del suelo, del alimento, y del grueso de la galjanoplastia
- Alto análisis de sensibilidad rápido
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X-Supreme980 - Análisis de XFT y análisis rápidos, no destructivos de los oligoelementos en oro y metales preciosos
Optimizado para el análisis rápido, exacto de metales preciosos:
Exacto
- La calibración empírica ofrece a 0.1-0.15 % peso de Au la duración de análisis típica de 120 segundos que usa
Análisis rápido, simultáneo
- el detector del PIN de 25mm2 Si permite al usuario analizar muchos elementos usando una sola condición
Análisis de los oligoelementos (e.g. Ir, Ru...)
- El tubo de radiografía de 100 vatios proporciona alta sensibilidad y límites de detección bajos
Análisis de pequeño a las muestras grandes
- El compartimiento gigante acomoda artículos de la joyería, barras del dore, el etc. de todas las formas y el tamaño
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CMI900 - Análisis rápido, no destructivo del quilate para la joyería del oro y metal precioso
Solución exacta del salón de muestras para que ensayadores verifiquen el tunch:
Exacto - 0.25 % peso del Au que usa de 120 segundos de duración de análisis típica
Investigación rápida del inventario para la joyería sospechada del debajo-quilate
Software simple, de uso fácil
Resultados confiables después de la cantidad mínima de entrenamiento
Análisis no destructivo
Ninguna preparación de la muestra, ningunos productos químicos, ninguna basura
Análisis de pequeño a las muestras grandes
El compartimiento de la muestra puede acomodar muestras hasta 6.3" colmos (de 160m m)
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Los instrumentos EDX3000 de Skyray son el modelo de la tapa del banco de un extremo más alto para el análisis de los metales preciosos. Se equipa dentro del alma del instrumento un detector del diodo de Pin del silicio capaz de detectar 24 elementos simulaneously de los sulfuros al uranio (U). Esta unidad fue diseñada especialmente para el análisis de los metales preciosos en aleaciones, sin embargo, esta unidad es capaz de funcionar con las pruebas para el plomo (Pb) y de platear medidas del grueso.
El instrumento de Skyray es uno de los fabricantes más grandes del espectrómetro de la fluorescencia de la radiografía por todo el mundo, con sobre 50 patentes bajo nombre de Skyray, y sobre 1500 empleados por todo el mundo que trabajen de cerca juntos para satisfacer nuestros clientes con no sólo el producto, solamente la ayuda también.
EDX3000 Speciications técnico:
Detector: Detector del diodo de Pin del silicio
Análisis elemental de la gama: Entre los sulfuros - uranio (U)
Curso de la vida: Horas 12000+ de análisis
Tiempo de la prueba: 10 segundos - 100 segundos
Informe: Informe de encargo a espec. del cliente.
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El espectrómetro de la fluorescencia de la radiografía EDX600, es el instrumento más popular de Skyray. Fue diseñado especialmente para la industria de metales preciosos, teniendo la capacidad para medir los elementos principales en el mundo de PMI, el oro, la plata, el platino y paladio.
Especificaciones:
Gama contenta: 0.1% - 100%
Muestra de la prueba del tiempo: 20 - 100 segundos
Exactitud: 0.1%
Peso: 70lb
Detector: Detector del contador proporcional
Consumo de energía: 50W
Configuraciones:
Dimensiones del compartimiento: 12 " X12 " X 4.25 "
Ánodo del tubo de radiografía: Material de blanco del tungsteno
Cámara: 1.4 mega-pixel - muestra de la visión
Software aplicable: Software de análisis de PMI
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