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Microscopios para semiconductores
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Resolución espacial: 1 µm
... Los sistemas de microscopios MX63 y MX63L están optimizados para inspecciones de alta calidad de obleas de hasta 300 mm, pantallas planas, placas de circuito y otras muestras de gran tamaño. Su diseño modular le permite elegir los componentes ...
microscopio electrónico de transmisión y barridoSU9000 II
Aumento: 3.000.000 unit
Resolución espacial: 0,8, 0,4, 1,2 nm
... El SU9000 II es una combinación de SEM de imagen superficial y microscopio de transmisión por barrido con resolución de estructura intrínseca (STEM) optimizado para una resolución extrema. Esto es posible gracias a la ...
Aumento: 5 unit - 800.000 unit
Resolución espacial: 15, 4, 3 nm
... en color de las placas de muestra cubren toda el área de muestra observable por SEM - Funcionamiento despreocupado: las colisiones entre la platina y los componentes del SEM quedan prácticamente eliminadas gracias a ...
Aumento: 20 unit - 8.000.000 unit
Resolución espacial: 0,08, 0,1 nm
... El HF5000 es un S/TEM con corrección de Cs personalizable para experimentos in situ. La característica especial la proporciona el detector Everhart Thornley SE, que toma imágenes de la superficie de la muestra a 60-200kV, igual que en un SEM. Esto resulta ...
Aumento: 10 unit - 5.480.000 unit
Resolución espacial: 0,7 nm - 3 nm
... energía (EDS) JEOL totalmente integrado, como plataforma común. El JSM-IT800 permite la sustitución de la lente objetivo del SEM como un módulo, ofreciendo diferentes versiones para satisfacer los requisitos de varios usuarios. Con el ...
Peso: 9,5 kg
Largo: 613 mm
Ancho: 251 mm
... análisis Gracias al diseño modular, el microscopio universal permite utilizar técnicas de contraste óptico complementarias en un solo soporte para microscopio. Nikon ECLIPSE LV100NDA y LV100ND Estos microscopios ...
Nikon Metrology
... El nuevo " Microscopio de Visión Artificial" (MVM) es un microscopio puramente digital con todas las características que hacen a un microscopio. Tiene un objetivo de microscopio apocromático ...
... de BF, DF, DIC y POL para los múltiples análisis. Microscopio invertido de nivel inicial para aplicaciones de uso general para ensayos de dureza Microscopio invertido de ciencia industrial y de materiales especialmente ...
microscopio electrónico de barrido de emisión de campoHEM6000
Aumento: 66 unit - 1.000.000 unit
Resolución espacial: 1,3 nm
Largo: 1.716 mm
... Microscopio electrónico de barrido de alta velocidad para la obtención de imágenes a escala transversal de muestras de gran volumen CIQTEK HEM6000 cuenta con tecnologías como el cañón de electrones de corriente de haz largo y alto brillo, ...
... MHz, controlados a través de una interfaz gráfica de fácil manejo. Construido según los estándares de la industria de semiconductores alrededor de una plataforma central que utiliza la última tecnología de producción e investigación, ...
PVA TePla Analytical Systems GmbH
... El microscopio de zoom de la serie ZTX-S adopta el sistema de imagen óptica, con alta resolución, definición fina y fuerte sentido de la tridimensionalidad, fácil operación. El microscopio es ampliamente utilizado ...
... opcional y lentes objetivo de alta calidad con gran distancia de trabajo. - Ideal como unidad de microscopio de una estación de procesamiento de semiconductores. - Los modelos L y L4 admiten rangos de longitud ...
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