Aparato de medición de campos 104/007

de velocidadde frecuenciade radiación

- Realización de mediciones CEM en tiempo real - Localización de fuentes de radiación parásita - Estimación de la intensidad de los campos de interferencia - Verificación en tiempo real de las medidas de apantallamiento y filtrado - Identificación de componentes defectuosos - Determinación de sensibilidades a radiaciones no esenciales Los paquetes de instrumentos de medición CEM en tiempo real de Aaronia permiten el diagnóstico CEM de una manera completamente nueva, incluso durante el diseño del producto. Por ejemplo, los problemas de apantallamiento pueden ser localizados y el éxito de las contramedidas puede ser analizado en tiempo real. Esto reduce significativamente el tiempo y por lo tanto también el esfuerzo financiero en el desarrollo de productos. Tecnología patentada: Basados en un método completamente nuevo de análisis de espectro, los aparatos de medición de Aaronia permiten la medición de RF y EMC en tiempo real a un precio espectacular. Con un ancho de banda en tiempo real de min. 80MHz, sin rival en su clase, encontrar incluso señales interferentes de duración extremadamente corta y su causa ya no es un problema. La determinación de la frecuencia y de la intensidad de la señal, así como la visualización simultánea de varios valores límite aumenta considerablemente la velocidad de la medición. Así, los analizadores de espectro de Aaronia contribuyen decisivamente al desarrollo oportuno y conforme a la CEM de nuevos productos. Todos los SPECTRAN y todas las antenas son desarrollados, fabricados individualmente y calibrados en Aaronia en Alemania. Esto garantiza los más altos estándares de calidad. Otro punto a destacar es el software asociado RTSA-Suite PRO, que utiliza procedimientos nuevos, innovadores y patentados que mejoran significativamente el flujo de trabajo y la evaluación de sus datos de medición.