Analizador de espesor de revestimiento Terra980

de metalde procesode rayos X

El analizador de espesor de revestimientos XRF portátil Terra980 de nueva generación adopta Si-PIN (o detector de deriva de silicio SDD) de alta resolución para lograr una excelente precisión y estabilidad de medición. Ya sea para el control de calidad del espesor del revestimiento en el proceso de producción, o para la comprobación aleatoria de la calidad y la inspección completa para la inspección del material entrante, Terra980 puede satisfacer sus necesidades de inspección. La medición del espesor del revestimiento desempeña un papel importante en el proceso de tratamiento de superficies de la industria de fabricación y es un método necesario para garantizar que el producto alcance una calidad excelente. Si el revestimiento es demasiado grueso, aumentará el coste de producción, y si es demasiado fino, no cumplirá los requisitos de rendimiento o aspecto del material. El analizador de espesor de revestimientos XRF portátil Terra980 de nueva generación adopta Si-PIN (o detector de deriva de silicio SDD) de alta resolución para lograr una excelente precisión y estabilidad en las mediciones. Ya sea para el control de calidad del espesor del revestimiento en el proceso de producción, o para la comprobación aleatoria de la calidad y la inspección completa para la inspección del material entrante, Terra980 puede satisfacer sus necesidades de inspección. Por qué el analizador de revestimiento Terra980 es una buena elección Rápido y fácil de usar-- Puede realizar la velocidad de detección de segundo nivel de espesor de revestimiento y análisis de la composición, y el tamaño es pequeño y portalbe Alta precisión--La fuente de rayos X en miniatura de cerámica y el detector semiconductor de alto rendimiento se utilizan para mejorar efectivamente la precisión de la prueba Operación simple--Equipado con una gran pantalla táctil de alta definición, interfaz de usuario intuitiva, y casi no requiere formación