Granulómetro por difracción láser LS 13 320 XR

automáticode distribución de tamaño de partículasbenchtop

Para grandes mejoras que le ayudan a detectar pequeñas diferencias. El LS 13 320 XR ofrece los mejores datos de distribución de tamaño de partículas de su clase mediante tecnología PIDS avanzada,* la cual permite mediciones de alta resolución y un intervalo dinámico ampliado. Al igual que sucede con el LS 13 320, el analizador XR proporciona resultados rápidos y precisos y le ayuda a agilizar los flujos de trabajo para optimizar la eficiencia. Algunas grandes mejoras le ayudan a detectar de manera fiable pequeñas diferencias que pueden tener un gran impacto en sus datos de análisis de partículas. • Intervalo de medición directa de 10 nm a 3500 µm • Destaca automáticamente los resultados de aceptación/fallo para un control de calidad más rápido • Software mejorado que simplifica la creación de métodos para mediciones estandarizadas • Nuevas normas de control para verificar de forma adecuada el rendimiento del instrumento o módulo Detecta pequeñas diferencias • Intervalo de medición ampliado: 10 nm – 3500 µm • La difracción láser plus es una avanzada tecnología de dispersión diferencial de la intensidad de polarización (PIDS) que permite la medición de alta resolución y la notificación de datos reales a partir de 10 nm • Proporciona una detección precisa y fiable de varios tamaños de partícula en una única muestra Software fácil de usar • El software ADAPT dispone de una verificación automática de aceptación/fallo • Los métodos preconfigurados aportan resultados con 3 clics o menos • Simplifica la operación del analizador tanto para usuarios expertos como para principiantes • Vista superpuesta de los datos históricos con 1 clic