Instrumento de medida SAXS NANOSTAR

El NANOSTAR es con su incomparable modularidad la herramienta ideal para la caracterización de nanoestructuras de tamaños desde 1 nm hasta unos 125 nm y superficies nanoestructuradas en SAXS, GISAXS y nanografía. El sistema de colimación tipo pinhole mediante espejos condicionados proporciona un haz paralelo de rayos X muy intenso que permite alcanzar tiempos de medición cortos. Al mismo tiempo, el sistema de colimación mantiene la forma de haz circular ideal y es muy eficaz al eliminar el fondo, lo que permite analizar muestras de dispersión muy débil, así como estructuras de gran tamaño. De hecho, el NANOSTAR analiza las propiedades puras de la muestra, incluso para los sistemas de muestra no isotrópicos. El diseño modular permite ajustar la distancia del detector a la muestra desde 11,5 mm hasta 1070 mm. Por lo tanto, se puede cubrir toda la gama de SAXS a WAXS. Características Configuración modular para obtener flexibilidad máxima Fuentes de rayos X de Alto Brillo: IμS, TXS y METALJET Sistema óptico MONTEL con sistema de colimación tipo pinhole intercambiable para alto flujo/alta resolución Sistema de colimación con bajo ruido de fondo empleando la triple colimación pinhole tradicional o la nueva configuración de dos pinhole tipo SCATEX Cámara de muestras grande que permite acomodar una gran variedad de soportes para muestras VÅNTEC-2000, detector 2-D gran tamaño, con verdadero conteo de fotones Distancia variable de la muestra al detector cubriendo un amplio rango q