Detector de rayos X QUANTAX EDS

de velocidadde ionesNA

Espectrometría de energía dispersiva para SEM, FIB-SEM y EPMA La última generación de QUANTAX EDS de Bruker incluye la serie de detectores XFlash® 7, que proporciona el mayor ángulo sólido para la recogida de rayos X (también llamado ángulo de recogida) y el mayor rendimiento. El XFlash® 7 sigue marcando la pauta en cuanto a rendimiento y funcionalidad en la espectrometría de energía dispersiva para el microscopio electrónico de barrido (SEM), el microscopio electrónico de haz de iones focalizado (FIB-SEM) y el microanalizador de sonda de electrones (EPMA). La familia de detectores XFlash® 7 también ofrece soluciones optimizadas para el análisis EDS de muestras transparentes a los electrones en TEM y SEM, así como el exclusivo XFlash® FlatQUAD, un detector hecho para responder a sus preguntas sobre muestras difíciles. Tecnología estilizada, diseño de gran ángulo de captación, procesamiento de impulsos de última generación, tiempo de actividad del sistema maximizado gracias al mantenimiento predictivo. Máximo rendimiento espectral obtenido con la mejor resolución energética. Mayor precisión de los resultados gracias a sofisticados algoritmos de cuantificación y a una combinación única de métodos basados en estándares y sin estándares. Obtenga resultados muy precisos más rápidamente con sistemas EDS optimizados individualmente. Garantiza una velocidad y precisión inigualables. Acorte el tiempo de medición con un rendimiento maximizado, que permite el mapeo y la cuantificación en todos los ajustes sin limitación del tamaño de los datos. Analice ahora muestras difíciles, gracias a la recogida geométrica más eficiente de los rayos X generados. Benefíciese de resultados de cuantificación precisos y fiables con una geometría optimizada que minimiza el fondo y evita la absorción. Detecte pequeñas cantidades con mejor límite de detección, menor fondo y menor absorción.