Microscopio de sonda de barrido Dimension XR
para la investigaciónde medidasnanoscopio

microscopio de sonda de barrido
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Características

Tipo
de sonda de barrido
Aplicaciones técnicas
para la investigación, de medidas
Técnica de observación
nanoscopio
Otras características
de alta resolución, SPM, para semiconductor, para nanotecnología
Resolución espacial

Mín.: 0 nm

Máx.: 100 nm

Descripción

Sistemas de investigación extremos para la nanomecánica, la nanoelectrónica y la nanoelectroquímica Los sistemas de microscopio de sonda de barrido (SPM) Dimension XR de Bruker incorporan décadas de investigación e innovación tecnológica. Con una resolución de defectos atómicos de rutina, y una serie de tecnologías únicas que incluyen PeakForce Tapping®, modos DataCube, SECM y AFM-nDMA, ofrecen el máximo rendimiento y capacidad. La familia de SPMs Dimension XR agrupa estas tecnologías en soluciones llave en mano para abordar aplicaciones nanomecánicas, nanoeléctricas y electroquímicas. La cuantificación de materiales y sistemas activos a nanoescala en entornos de aire, fluidos, eléctricos o químicamente reactivos nunca ha sido tan fácil. Hiperspectral caracterización nanoeléctrica Incluye la gama más completa de técnicas de AFM eléctricas para la caracterización de materiales funcionales, semiconductores e investigación energética. Sub-100nm imágenes electroquímicas Proporciona la solución total de mayor resolución para el análisis cuantitativo de la actividad electroquímica local asociada a las baterías, las pilas de combustible y la corrosión. Fuera de la caja análisis nanomecánico Ofrece un conjunto de técnicas totalmente cuantitativas y llave en mano para correlacionar la estructura y las propiedades nanomecánicas de los materiales. PERMITE LA PRIMERA Y ÚNICA CAPACIDAD DE AFM CON EL MÁS ALTO RENDIMIENTO Configuraciones optimizadas para la investigación avanzada Nanomecánica XR XR Nanomechanics ofrece una gama de modos para detectar de forma exhaustiva las estructuras más pequeñas con una resolución espacial que llega hasta las unidades submoleculares de las cadenas de polímeros. Los investigadores correlacionan los datos de nanomecánica con los métodos de DMA y nanoidentificación a gran escala con nuestro modo AFM-nDMA™ patentado.

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Ferias

Este distribuidor estará presente en las siguientes ferias

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 jun. 2024 Frankfurt am Main (Alemania)

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    * Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.