Sistemas de investigación extremos para la nanomecánica, la nanoelectrónica y la nanoelectroquímica
Los sistemas de microscopio de sonda de barrido (SPM) Dimension XR de Bruker incorporan décadas de investigación e innovación tecnológica. Con una resolución de defectos atómicos de rutina, y una serie de tecnologías únicas que incluyen PeakForce Tapping®, modos DataCube, SECM y AFM-nDMA, ofrecen el máximo rendimiento y capacidad. La familia de SPMs Dimension XR agrupa estas tecnologías en soluciones llave en mano para abordar aplicaciones nanomecánicas, nanoeléctricas y electroquímicas. La cuantificación de materiales y sistemas activos a nanoescala en entornos de aire, fluidos, eléctricos o químicamente reactivos nunca ha sido tan fácil.
Hiperspectral
caracterización nanoeléctrica
Incluye la gama más completa de técnicas de AFM eléctricas para la caracterización de materiales funcionales, semiconductores e investigación energética.
Sub-100nm
imágenes electroquímicas
Proporciona la solución total de mayor resolución para el análisis cuantitativo de la actividad electroquímica local asociada a las baterías, las pilas de combustible y la corrosión.
Fuera de la caja
análisis nanomecánico
Ofrece un conjunto de técnicas totalmente cuantitativas y llave en mano para correlacionar la estructura y las propiedades nanomecánicas de los materiales.
PERMITE LA PRIMERA Y ÚNICA CAPACIDAD DE AFM CON EL MÁS ALTO RENDIMIENTO
Configuraciones optimizadas para la investigación avanzada
Nanomecánica XR
XR Nanomechanics ofrece una gama de modos para detectar de forma exhaustiva las estructuras más pequeñas con una resolución espacial que llega hasta las unidades submoleculares de las cadenas de polímeros. Los investigadores correlacionan los datos de nanomecánica con los métodos de DMA y nanoidentificación a gran escala con nuestro modo AFM-nDMA™ patentado.
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