El Hysitron TS 75 TriboScope ofrece capacidades cuantitativas de nanoindentación con sonda rígida y de caracterización nanotribológica a los microscopios de fuerza atómica líderes en el mundo de Bruker. El Hysitron TriboScope se conecta con los AFM Dimension Icon, Dimension Edge y MultiMode 8 de Bruker para ampliar las capacidades de caracterización de estos microscopios. Al utilizar una sonda de prueba rígida, el TriboScope elimina las limitaciones intrínsecas, la variabilidad y la complejidad asociadas a las mediciones basadas en voladizos para ofrecer una caracterización mecánica y tribológica cuantitativa y repetible en escalas de longitud de nanómetros a micrómetros.
Cuantitativo
caracterización con sonda rígida
Elimina las incertidumbres y complejidades intrínsecas de las técnicas de ensayo de nanoindentación basadas en voladizos.
Tecnología propia de transductores capacitivos
tecnología de transductores capacitivos
Proporciona un control superior sobre el proceso de nanoindentación y ofrece niveles de ruido de fuerza y desplazamiento líderes en la industria.
Intuitivo
interfaz mecánica
Agiliza la integración con los AFM más populares del mercado, incluidos los sistemas Dimension Icon, Dimension Edge y MultiMode 8 de Bruker.
Modos de prueba
Nanoindentación cuasiestática
Caracterizar cuantitativamente las propiedades mecánicas de pequeños volúmenes de material
Desgaste por escaneo
Medición de la resistencia al desgaste en la nanoescala
La ventaja de Rigid-Probe
La mayoría de los AFM utilizan un voladizo flexible para llevar a cabo pruebas mecánicas o tribológicas, lo que supone un reto importante a la hora de separar la rigidez de flexión y rotación de un voladizo de la respuesta del material a la tensión aplicada.
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