El interferómetro de luz blanca (WLI) de pie ContourX-1000 facilita y agiliza la obtención de mediciones de rugosidad y textura de superficies en 3D. Gracias a la incorporación de más de 30 años de innovación y de nuestro software y tecnología patentados más recientes, este sistema de metrología ofrece la rapidez en la obtención de resultados y la repetibilidad por las que son conocidos los perfiladores ópticos de Bruker, con un mayor rendimiento y una facilidad de manejo aún mayor.
Con capacidades de automatización total, una experiencia de usuario sencilla y una configuración de medición y recetas de análisis racionalizadas, el ContourX-1000 ofrece la metrología más exacta y precisa en casi cualquier superficie, por cualquier operario, incluso en instalaciones de producción de gran volumen multiusuario.
Equipado con la tecnología de interferometría exclusiva de Bruker y capaz de una automatización completa, el ContourX-1000 amplía las incomparables capacidades de medición e imagen de nuestros sistemas de perfilometría ContourX para incluir casi cualquier aplicación de desarrollo y producción.
- Proporciona una metrología rápida y versátil en la planta de producción con un exclusivo cabezal de punta/inclinación, fuente de luz dual y automatización avanzada;
- Garantiza una precisión y fiabilidad extremas con láser autocalibrado y aislamiento de vibraciones integrado; e
- Integra nuestro software de medición y análisis más fácil de usar con rutinas y recetas guiadas y simplificadas.
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