Microscopio de sonda de barrido EIKOS-UV™

para la investigación3D

La sonda atómica que permite el nanoanálisis 3D de alto rendimiento rutinario para la investigación y la industria Con 30 años de éxito en la instrumentación y aplicación de tomografía de sonda atómica, CAMECA ha desarrollado EIKOS™, el microscopio de sonda atómica para el desarrollo rápido de aleación y la investigación de materiales a nanoescala. La sonda atómica EIKOS ofrece: Tomografía tridimensional con caracterización a nanoescala de microestructuras Detección atómica simple de alta resolución espacial con alta eficiencia Misma sensibilidad para todos los elementos y sus isótopos Medición de composición cuantitativo (escala de sub-nm a casi micrones) Disponible en configuraciones de voltaje o voltaje y láser Métodos de preparación de espécimen estándar EIKOS está disponible en 2 configuraciones: El sistema EIKOS básico incorpora un diseño de reflectrones para proporcionar una excelente potencia de resolución de masa y señal a ruido. El electrodo del contador integrado alineado previamente garantiza la facilidad de uso y una alta confiabilidad. El sistema de pulsación de voltaje proporciona una calidad de datos muy alta en una amplia variedad de aplicaciones metalúrgicas. El sistema EIKOS-UV totalmente configurado combina todas las sorprendentes funciones del EIKOS básico (pulsación de voltaje, funcionalidad basada en reflectrones, electrodo contador alineado previamente) y agrega un módulo de pulsación láser totalmente integrado con el diseño de punto focalizado y controlado por computadora para proporcionar acceso a una gama de aplicaciones más grande.