Microscopio de rayos X Xradia 510 versa

de laboratorio3Din-situ

ZEISS Xradia 510 Versa Su sistema de imágenes submicrónicas en 3D con una gran flexibilidad Rompa la barrera de una micra de resolución con este microscopio de rayos X para imágenes 3D e investigaciones in situ / 4D. Utilice la combinación de resolución y contraste con distancias de trabajo flexibles para extender el poder de las imágenes no destructivas en su laboratorio. Aprovechar su arquitectura que utiliza una técnica de aumento en dos etapas para lograr una resolución submicrónica a distancia (RaaD). Reducir la dependencia del aumento geométrico mantiene la resolución submicrónica incluso a grandes distancias de trabajo. Lo más destacado Disfruta de la versatilidad incluso a grandes distancias de trabajo desde la fuente, desde milímetros a centímetros. Realizar imágenes 3D para materiales blandos o de baja Z con absorción avanzada y contraste de fase innovador Alcanzar una resolución líder en el mundo a distancias de trabajo flexibles más allá de los límites de la micro-TC basada en proyecciones Resolver las características a escala submicrométrica para diversos tamaños de muestra Amplíe las imágenes no destructivas en su laboratorio con una solución in situ / 4D Investigar los materiales en entornos similares a los nativos a lo largo del tiempo Rendimiento con calidad de imagen