Sistema de haz de iones focalizados ZEISS Crossbeam 340 & 540

El ZEISS Crossbeam 340 y el Crossbeam 540 son FIB-SEMs indicados para la nanotomografía y la nanofabricación. Utilizando Crossbeam, la imagen y el rendimiento analítico de la columna GEMINI pueden vincularse para la preparación de la muestra y el procesamiento del material a escala nanoscópica. Su bajo rendimiento en kV SEM puede combinarse con corrientes de FIB de hasta 100 nA para acelerar la nanotomografía y la nanofabricación. Dispone de una interfaz gráfica de usuario fácil de entender y los usuarios pueden beneficiarse de una estabilidad máxima y de un perfil de haz estándar, lo que hace que el dispositivo sea más fiable durante experimentos largos y complicados.