Objetivo de microscopio SWIR IR-A seriesinfrarrojode deteccióndiseño compacto
Añadir a mis favoritos
Añadir al comparador
Características
- Tipo
- infrarrojo
- Aplicaciones técnicas
- de detección
- Otras características
- diseño compacto, SWIR
- Distancia focal
25 mm
(0,98 in)- Transmisión
Máx.: 1.700 nm
Mín.: 800 nm
Descripción
LENTE SWIR
Diseño optimizado para la banda del infrarrojo cercano
Adecuado para diversas aplicaciones de infrarrojos
Alta transmitancia, alta uniformidad
Tamaño pequeño, estructura compacta
APLICACIÓN
Detección de grietas ocultas en chips de silicio
Pruebas de productos de células de batería
---
Catálogos
Chiopt Company Introduction
31 Páginas
Búsquedas asociadas
- Lente objetivo de alta resolución
- Lente objetivo zoom
- Lente objetivo telecéntrica
- Objetivo de microscopio de focal fija
- Lente objetivo de gran formato
- Objetivo de microscopio de detección
- Objetivo de microscopio para uso industrial
- Objetivo de microscopio zoom
- Objetivo de microscopio de alta resolución
- Objetivo de microscopio de baja distorsión
- Objetivo de microscopio compacto
- Objetivo de microscopio telecéntrico
- Objetivo de microscopio de escaneo lineal
- Lente objetivo para la supervisión de procesos
- Objetivo de microscopio macro
- Objetivo de microscopio alto contraste
- Objetivo de microscopio infrarrojo
- Objetivo de microscopio para aplicaciones metalúrgicas
- Objetivo de microscopio para la supervisión de procesos
- Objetivo de microscopio bitelecéntrico
* Los precios no incluyen impuestos, gastos de entrega ni derechos de exportación. Tampoco incluyen gastos de instalación o de puesta en marcha. Los precios se dan a título indicativo y pueden cambiar en función del país, del coste de las materias primas y de los tipos de cambio.