Blaze es la última tecnología de detección de CIMS, que constituye el núcleo de la inspección de semiconductores y que impulsa nuestras soluciones de inspección más recientes para los segmentos de encapsulado y microelectrónica.
Las capacidades únicas de Blaze™ permiten una inspección altamente fiable de una amplia gama de productos avanzados de microelectrónica, una integración completa de los datos con otros procesos y la compatibilidad con diversos protocolos avanzados de intercambio de datos habituales en la industria de los semiconductores.
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