Plataforma de test para semiconductor FTI-1000 Flexible Power

Resumen
FTI‑1000 Flexible es una plataforma ATE multisitio, compacta y modular, diseñada para el ensayo de alto mix de dispositivos discretos de potencia media en Si y GaN. Configurada para 8–16 sitios, soporta hasta 1,2 kV y 100 A en una arquitectura de bajo volumen, con recursos DC y AC independientes y mediciones completas de MOSFET y dispositivos de potencia (características DC, ΔVsd, carga de puerta, resistencia de puerta y conmutación inductiva).

Propuestas clave / posicionamiento

• Adaptable por diseño — arquitectura modular que permite reconfiguración rápida para diferentes tipos de dispositivos y requisitos de ensayo.
• Alto rendimiento — arquitectura base de 8 sitios y secuenciación de pruebas optimizada para reducir el tiempo de ciclo en producción mixta.
• Eficiencia operativa — reducido espacio ocupado y cambios rápidos, apto para I+D y producción automatizada.

Aplicaciones
Prueba final y caracterización de dispositivos discretos para automoción, industria y wide‑bandgap (Si / GaN); validación de ingeniería, ensayos UIS/avalanche y caracterización de puerta.

Integración y software
La apertura mecánica y la modularidad permiten compatibilidad con handlers pick‑and‑place, gravity‑feed y leadframe strip. El desarrollo y depuración de pruebas se realiza con FTI Studio mediante captura de formas de onda, generación automática de hojas de datos, gráficos schmoo y herramientas de análisis de parámetros.

Notas del producto
La arquitectura modular Tester‑per‑Channel Board proporciona recursos AC y DC configurables en una única plataforma escalable. Las opciones plug‑in y los elementos mecánicos/eléctricos modulares permiten expansión (extensiones HV, módulos de impulsos de alta corriente, digitizadores, módulos de medida Rg).

Especificaciones técnicas

• Familia de plataforma: FTI‑1000 Flexible
• Número de sitios de prueba: 8-16
• Tensión máxima de conmutación (AC / DC): 1,2 kV
• Corriente máxima de conmutación / DC: 100 A
• Capacidad energía cortocircuito: >10 J
• Rango de tensión de puerta: ±25 V
• Pruebas paramétricas DC (ejemplos): Rdson, Idon, Vce(sat), Vgs, Gfs, Igss, Idss, BVdss
• Mediciones de óxido de puerta y calidad: Rg, Cg, Qg
• Indicador de calidad de die‑attach térmico: dVsd / Vgs
• Métricas UIS / avalanche / diodo de cuerpo: UIL, EAR, EAS
• Canales digitales: opción para 8 canales digitales independientes (IC Channel Board)
• Opciones de resistencia de puerta: 0, 10, 25, 50 Ω más R enchufable por el usuario
• Inductor de carga: inductores discretos enchufables o caja de inductores seleccionable
• Fuente DC – tensión (HV): 1,2 kV; rango ejemplo de pilotaje de corriente HV: 25 mA
• Capacidad nominal de corriente (DC/AC): 100 A
• Dimensiones (totales): 541 mm × 345 mm × 206 mm • Fuente de alimentación: 345 mm × 176 mm × 103 mm
• Software (FTI Studio): captura de formas de onda, generación automática de hojas de datos, schmoo plotting, análisis de parámetros, creación/depuración de programas de prueba
• Compatibilidad de manejo: pick‑and‑place, gravity‑feed, leadframe strip y otros handlers automáticos estándar